「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • A new pollen disease-related gene is provided which consists of a nucleic acid molecule containing a base sequence shown by the formula or a partial sequence thereof, has relation with the cedarn pollen-specific IgE value, and is useful for testing the pollen disease and for screening candidate compounds for treating the pollen disease.
    スギ花粉特異的IgE値が異なる複数の被験者から花粉飛散時期前後にT細胞を調製し、ディファレンシャルディスプレイ法により遺伝子を検索した結果、スギ花粉特異的IgE値が高値を示す被験者で有意に発現が高い新規遺伝子を単離することに成功した。 - 特許庁
  • Based on a first start signal Ss1 and a first halt signal Sh1, a clock signal control circuit 11a outputs a clock signal CK from a testing device, as a first internal clock signal ICK1, to an internal circuit 12a, a BIST circuit 13a and a delay control circuit 14a.
    クロック信号制御回路11aは、第1開始信号Ss1及び第1休止信号Sh1に基づいて、試験装置からのクロック信号CKを第1内部クロック信号ICK1として内部回路12a、BIST回路13a、遅延制御回路14aに出力する。 - 特許庁
  • The testing device includes a panel receptacle having a rectangular panel receptacle surface for receiving a tabular test object, a probe unit with a probe block having a plurality of contacts to be depressed by an electrode on the test object, and a plurality of protective members located at the outside of the panel receptacle surface.
    検査装置は、平板状被検査体を受ける矩形のパネル受け面を有するパネル受けと、前記被検査体の電極に押圧される複数の接触子を有するプローブブロックを備えるプローブユニットと、前記パネル受け面の外側に位置された複数の保護部材とを含む。 - 特許庁
  • To eliminate the need for maintenance such as removing molten marks which damage the rear surface of a chip for reducing contact resistance by increasing contact points between a chip electrode and a contact of a testing device and for carrying out tests continuously, when the tests of power semiconductor chips are carried out.
    パワー半導体チップの試験を行う際、チップ電極と試験装置の接触子との接触点を増加させて接触抵抗を低下させるとともに、連続して行うため、チップ裏面を損傷させるような溶融痕を除去するなどのメンテナンスを不要とする。 - 特許庁
  • The method entails testing the write strategies first at the maximum possible write speed and if necessary, at successively lower speeds until a write strategy that achieves the minimum acceptable write quantity is identified or until the minimum write speed is achieved.
    本方法は最初に、とり得る最高の書き込みスピードで、及び必要なら、最低限の許容可能な書き込み品質を達成する書き込み戦略が特定されるまで又は最低のスピードが到達されるまで、引き続いてより低いスピードで書き込み戦略をテストすることを必要とする。 - 特許庁
  • The test device 1 of the semiconductor integrated circuit 10 testing the semiconductor integrated circuit 10 by applying a voltage to a semiconductor element of the semiconductor integrated circuit 10 includes a voltage application part 2, a breakdown detection part 3, and a test voltage determination part 4.
    半導体集積回路10の試験装置1は、半導体集積回路10の半導体素子に電圧を印加することによって半導体集積回路10を試験するものであり、電圧印加部2、ブレークダウン検出部3及び試験電圧決定部4を備えている。 - 特許庁
  • To increase the flexibility of test runs or test drives in a method of testing a vehicle or its partial system on a test bench or in a vehicle experiment, where interfaces to transmit force and torque are at least partially present in reality.
    テストベンチ上でまたは車両実験において、車両またはその部分システムをテストする方法であって、力伝達を行いかつトルク伝達を行うインターフェースが、少なくとも部分的に現実に存在する前記方法において、テスト走行またはテスト運転の柔軟性をさらに向上させる。 - 特許庁
  • To provide an insulator cleaning device having a simple structure, enabling switching between cleaning and testing and enabling confirmation and inspection of the condition of cleaning water ejected from a nozzle part before cleaning an insulator with the cleaning water actually sent out from the nozzle part.
    本発明は、碍子洗浄装置について、簡易な構造で洗浄時とテスト時との切り替えを行うことを可能にすると共に、ノズル部から噴射される洗浄水の状態を碍子の洗浄前に実際にノズル部から送出された洗浄水にて確認、検査することを可能にする。 - 特許庁
  • To provide a polyelectrolyte fuel cell testing method which figures out a deterioration phenomenon of the polyelectrolyte during running of a fuel cell to ensure performance of the fuel cell as well as a reliable polyelectrolyte fuel cell applied to this method.
    燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して、燃料電池の性能を保証するための高分子電解質型燃料電池の試験方法と、この試験方法を用いた信頼性の高い高分子電解質型燃料電池を提供すること。 - 特許庁
  • To prevent a pallet from rising up to the upper side of an installation plate and continuously transfer the pallet where a test tray or a customer tray is placed by improving the transfer method of the pallet in a module IC handler for testing a module IC.
    本発明は、モジュールICをテストするモジュールICハンドラーに関するもので、パレットの移送方法を改善して、設置板の上側にパレットが上昇しないようにして、なお、テストトレイ又はカストマトレイが載置されるパレットの移送が連続的に行われるようにしたものである。 - 特許庁
  • The spectrophotometer transmits a large number of spectral data outputs from photo-sites having different filters which are simultaneously illuminated with reflected light from color testing target areas which are sequentially illuminated with the restricted number of LEDs, provides information on broad-band spectra, and enables color control.
    更にこの分光光度計は、制限された数のLEDによって順次照射された色テストターゲット領域からの反射光によって同時に照射される、異なるフィルタを備える光サイトから多数のスペクトルデータ出力を送出し、広域スペクトル情報を提供し、カラーコントロールを可能にする。 - 特許庁
  • To provide a testing method for the mercaptan sulfur content of petroleum series fuel oil capable of accurately calculating and measuring the concentration of the mercaptan sulfur in the fuel oil which contains as small quantity as several ppm by mass or below without risk of calculating and measuring the concentration excessively.
    メルカプタン硫黄分の濃度が数質量ppm以下の少量である石油系燃料油のメルカプタン硫黄分濃度を、過剰に算出、測定されることなく、正確に算出、測定し得る石油系燃料油のメルカプタン硫黄分試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a new microorganism actually present in a marine environment, especially in low-temperature and high-pressure deep sea, and having ability for degrading a biodegradable plastic; and to provide a method for testing the biodegradability of the biodegradable plastic in the marine environment by using the microorganism.
    海洋環境、特に低温高圧の深海において実際に存在して、生分解性プラスチックを分解する能力を有する微生物、及び該微生物を使用して海洋環境における生分解性プラスチックの生分解性を試験する方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a signal selection circuit and a semiconductor testing device capable of speed heightening of signal switching, cost reduction and miniaturization, by shortening greatly a settling time of a low-pass filter, and by reducing the number of A/D conversion parts.
    本発明は、ローパスフィルタの整定時間を大幅に短縮し、かつA/D変換部の数を削減することにより、信号の切り換えの高速化、コスト低減、および小型化を図ることのできる信号選択回路および半導体試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.
    試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁
  • This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.
    本発明は、被試験対象を試験するIC試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁
  • The bending test for testing the number of times of bending of wires before disconnection due to bending is performed individually for wire 1 comprising the wire harness, then based on the individual results of the bending test for each wire, the bending life span for the whole wire harness is estimated.
    屈曲により断線に至るまでの屈曲回数を試験する屈曲試験を、前記ワイヤーハーネスを構成する各電線1に対して個別に行い、その各個別の電線1の屈曲試験結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの全体の屈曲寿命を推測する。 - 特許庁
  • To provide a rate fraction type timing signal generator capable of synchronizing with a frequency and a phase of a clock signal fed from another signal generator having different frequency resolution and to provide a semiconductor integrated circuit testing device having the timing signal generator.
    異なる周波数分解能を有する他の信号発生装置から供給されるクロック信号の周波数や位相に同期可能な、レート端数方式のタイミング信号発生装置、及び当該タイミング信号発生装置を備えた半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The probe card for testing a plurality of semiconductor integrated circuits formed on a semiconductor wafer comprises a plurality of probes 3 for making connection to each electrode for inspection of the semiconductor wafer, and a wiring board 1 having a pad 3 for jointing to the probe 3.
    半導体ウェハ上に形成された複数の半導体集積回路を試験するためのプローブカードであって、半導体ウェハの各検査用電極と接続するための複数のプローブ3と、前記プローブ3と接合するためのパッド2を有する配線基板1とを備える。 - 特許庁
  • This invention provides an immunoassay method using an antibody against the NS1 protein of the influenza A type viruses, especially a sandwich type immunoassay method using a first antibody and a second antibody against the NS1 protein, in particular, the invention provides an immunochromatography method and a testing split for immunochromatography.
    かくして、インフルエンザA型ウイルスのNS1蛋白に対する抗体を用いる免疫測定法、特に該NS1蛋白に対する第一の抗体と第二の抗体とを用いたサンドイッチ式免疫測定法、とりわけイムノクロマトグラフィー測定法およびイムノクロマト法テストストリップが提供される。 - 特許庁
  • "Invention" means any manner of new manufacture the subject of letters patent and grant of privilege within section 6 of the Statute of Monopolies and any new method or process of testing applicable to the improvement or control of manufacture; and includes an alleged invention:
    「発明」とは,独占法第6条の範囲に該当する特許証及び特権付与の対象である何らかの種類の新規な製造物,及び製造物の改良若しくは管理に実施可能な何らかの新規な試験方式又は試験方法をいい,発明と主張されるものを含む。 - 特許庁
  • Stress testing should include a rigorous and up to date assessment of their exposure to potential losses and of their future viability, including their capacity to continue lending and absorb potential losses in order to avoid international distortions.
    ストレステストは潜在的な損失へのエクスポージャーと将来の存続可能性に関する厳格かつ最新の評価を含むべきである。その際、国際的な歪みを回避するため、貸出の継続能力や潜在的な損失を吸収する能力に対する評価も含むべきである。 - 財務省
  • The functions or characteristics of the claimed inventions are found to be convertible to other functions or characteristics specified by other definitions or processes for testing or measuring, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be grounds to deny the inventive step of the claimed inventions from the results of the conversion.
    請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて請求項に係る発明の進歩性否定の根拠になると認められる引用発明の物が発見された場合 - 特許庁
  • A third party who privately or in an academic environment and without gainful intent, conducts scientific or technological research activities for purely experimental, testing or teaching purposes, and to that end manufactures or uses a product or applies a process identical to the one patented.
    第三者であって,私的又は学術的環境において営利を目的とせず,純粋に実験的,試験的又は教育目的で,科学技術研究活動を行い,その目的のために,特許を受けたものと同一の製品を製造し,使用し,又は同一の方法を利用する者。 - 特許庁
  • To provide a nucleic acid probe collectively detecting bacterial strains of the same species irrespective of the strains, differentially detecting the bacterial strains from other bacterial species and immobilized on a carrier for the purpose of classifying pathogenic bacteria by the species and to provide a method for testing a DNA using the same.
    病原性細菌の種による分類を目的に、株を問わず同じ種の菌であれば一括検出が可能で、かつ、他の菌種の細菌は区別して検出できるような、担体に固定された核酸プローブ及びこれを用いたDNA検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.
    半導体集積回路内のA/D変換器の機能テストでは、A/D変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速A/D変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁
  • To provide a floor sound insulating performance testing device capable of accurately predicting the floor impulsive sound insulating performance of a dry double floor in a short time using a floor board and a support leg used for the dry double floor without actually constructing the dry double floor.
    乾式二重床に使される床板や支持脚を用い、実際に乾式二重床を施工することなく、乾式二重床の床衝撃音遮音性能を短時間でかつ正確に予測することのできる床遮音性能の試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The obtained fiber fabric has ≥2.2 bacteriostatic activity value measured by a method for evaluating and testing antibacterial properties regulated by JIS L1092, and ≤1.5% shrinkage at home laundry regulated by JIS L0217.
    及び得られた繊維布帛のJIS L1092に規定する抗菌性評価試験方法による静菌活性値が2.2以上であり、かつJIS L0217に規定する家庭洗濯における収縮率が1.5%以下である上記の獣毛蛋白質系繊維の防縮抗菌防臭加工方法。 - 特許庁
  • A material testing machine includes a pair of columns 2 erected on a base 1, the crosshead 4 vertically movable along the columns 2, an elevation mechanism 11 to 13 for vertically moving the crosshead 4, a load actuator 8 for loading a test piece via the crosshead 4, and gas springs 3 for supporting the crosshead 4.
    基台1上に立設された一対の支柱2と、支柱2に沿って昇降可能なクロスヘッド4と、クロスヘッド4を昇降する昇降機構11〜13と、クロスヘッド4を介して供試体を負荷する負荷アクチュエータ8と、クロスヘッド4を支持するガススプリング3とを備える。 - 特許庁
  • When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.
    メモリ制御装置100は、情報処理システム1に組み込まれたメモリ200の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁
  • To enable a required material testing to be carried out even by a person other than an expert engineer, without the need for understanding the standards, and to reduce the possibility of incorrect execution in the test as reduced as possible, when the material testings are carried out pursunat to various standards.
    各種規格に則った材料試験を行うに当たり、その規格を理解することなく、専門技術者でなくとも所要の試験を行うことができ、また、間違った試験を行う可能性を可及的に少なくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.
    その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁
  • This testing method is carried out for a membrane tank 1, having a tank 3 and a cold-insulation layer 4 isolated from each other by a membrane 5, and comprises the filling of the tank 4 with a pressurized tracer gas, the sampling of a gas filling the layer 4, and the measurement of the concentration of the tracer gas in this gas.
    タンク3と保冷層4とがメンブレン5で隔離されているメンブレンタンク1で実施され、タンク4にトレーサーガスを加圧して充填すること、保冷層4に充填されている気体をサンプリングすること、気体のトレーサーガスの濃度を測定することとを具備する。 - 特許庁
  • Nondestructively testing includes a step (108) of generating an eddy current in the coated article; a step (110) of measuring the eddy current in the coated article; and a step (112) of evaluating a near-bond section region of the coated article located adjacent to the bond section using the measured eddy current.
    非破壊検査する段階は、被覆物品内に渦電流を発生させる段階(108)と、被覆物品内の渦電流を測定する段階(110)と、測定渦電流を使用してボンド部に隣接して位置する被覆物品のボンド部近傍領域を評価する段階(112)とを含む。 - 特許庁
  • In the package of a semiconductor device, in which the external wiring terminals 2 of the semiconductor chip are arranged into a lattice form, terminals 7 which do not form solder bump for testing are arranged between the external wiring terminals 2 arranged in a lattice form, and all the conventional terminals forming a solder bump are used for actual operation.
    半導体チップの外部配線端子2を格子状に配列した半導体装置のパッケージにおいて、格子状に配列した外部配線端子2の間に半田バンプを形成しない検査用の端子7を配列し、半田バンプを形成する従来の端子はすべて実動作用に使用する。 - 特許庁
  • The collision testing device of a claim 1 includes a jig frame on which a cab is placed, a truck on which the jig frame is placed, a projection barrier arranged in front of the cab, and a collision means which moves the truck so that the cab collides with the projection barrier.
    請求項1に係る衝突試験装置は、キャブを載置する治具フレームと、前記治具フレームを載置する台車と、前記キャブの前方に配置される突起バリアと、前記台車を移動して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる衝突手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a method capable of quantitatively measuring concentration of an object to be analyzed in a sample which is difficult to be quantified by using conventional methods, and a kit and a device capable of being used for the method, and to provide a method which controls quality by testing the performances of the kit and the device.
    従来定量化が困難であった試料中の被分析物濃度を定量的に測定する方法及び前記方法に使用し得るキット及び装置を提供し、また、前記キット及び装置の性能を検査することにより品質を管理する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A sensitivity testing device (1000) includes a body (1100) enabling ultrasonic propagation, a first gel layer (1010) provided on a first plane (1002) of the body and a second gel layer (1020) provided on a second plane (1004), and the first gel layer is protected by a protective sheet (1030).
    感度試験装置(1000)は、超音波伝播可能な本体(1100)と、本体の第1平面(1002)に設けられた第1ゲル層(1010)と、第2平面(1004)に設けられた第2ゲル層(1020)とを備え、第1ゲル層は、保護シート(1030)によって保護されている。 - 特許庁
  • In a fine adjustment process after performing a wafer testing process, either the fuse T13 or the fuse T14 is disconnected, the output terminal 3 is connected to the node N1 or N2, and either or both of the fuses T11, T12 are disconnected to carry out fine adjustment of the voltage of the output terminal 3.
    ウエハテスト工程を行なった後、微調整工程においてヒューズT13,T14のいずれか一方を切断して出力端子3を端子N1又はN2に接続し、さらにヒューズT11,T12のいずれか一方又は両方を切断して出力端子3の電圧を微調整する。 - 特許庁
  • That is, the collision testing device 1 enables the vehicle structural members to collide against the dummy DM not only by simply moving the vehicle structural members (for example as shown in Figure 10) but also by moving the vehicle structural members in a state that the vehicle structural member at different position has the different driving speed.
    すなわち、衝突試験装置1は、単に車両構造部材を移動させてダミーに衝突させる(例えば、図10参照)のみならず、位置によって異なる速度で移動させた状態にて車両構造部材をダミーDMに衝突させることが可能となる。 - 特許庁
  • To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.
    時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.
    メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.
    過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁
  • The roll of newsprint paper is produced by winding the newsprint paper having a basis weight of 46 to 38 g/m^2 and the hardness (R) of the rolled paper is 40 to 60 according to JAPAN TAPPI paper pulp testing method No. 37.
    米坪が46〜38g/m^2の新聞用紙を巻き取ってロール状にした新聞印刷用巻取紙であって、JAPAN TAPPI紙パルプ試験方法No.37に基づいて測定された巻取紙の硬さ(R)が40〜60である新聞印刷用巻取紙により解決される。 - 特許庁
  • To provide a test method not causing a security hole for a random number generating circuit in the case of testing/verifying the circuit with a constant initial value in a specific mode where the circuit using an initial value has not a constant value at application of power and after reset for the encryption and authentication processing.
    暗号、認証処理を行うため、電源投入やリセット後の初期値が一定でない値を使った乱数発生の回路において、特別なモードを設けて、初期値を一定にして回路のテスト/検証を行う際に、セキュリティホールにならないようなテスト方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide a simple assay method capable of simply and rapidly specifying a substance to be detected showing positive reaction by testing a plurality of substances to be detected by one assay device in an examination method of a specimen using a flow-through type membrane enzyme immunoassay method and having good user's convenience and high reliability.
    フロースルー式メンブランエンザイムイムノアッセイ法を用いた検体の検査方法において、一つのアッセイ装置で複数の被検出物質種を同時に試験して陽性反応を示す被検出物質を簡便・迅速に特定でき、使い勝手のよい信頼性の高いアッセイ方法の提供。 - 特許庁
  • A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.
    洗車機本体1に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁
  • In a temperature range lower than a combustion temperature of an actual machine, CO_2 having a change in a ratio of specific heat proximate to a change in a ratio of specific heat of steam as working fluid of a rocket motor is used as a testing gas, and is passed to a nozzle model 1 at a temperature lower than the combustion temperature of the actual machine.
    実機の燃焼温度よりも低い温度範囲において、ロケットモータの作動流体である水蒸気の比熱比変化と近似する比熱比変化を持つCO_2を試験用気体として使用し、実機の燃焼温度よりも低い温度でノズルモデル1に通過させる。 - 特許庁
  • To provide an environmental testing apparatus in which, even if adhesion between a dew condensation sensor and an object to be tested is slightly deteriorated, a change of a dew condensation amount on the surface of a tested object is hardly caused before and after the deterioration of adhesion, that is, the dew condensation state of the surface of the tested object can be stabilized.
    結露量センサと被試験物との間の密着性がある程度悪化しても、密着性悪化前と悪化後とで被試験物表面の結露量の変化が生じにくい、すなわち被試験物表面の結露状態を安定させることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.
    曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁
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