「testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 269 270 271 272 273 274 275 276 277 .... 288 289 次へ＞- The method includes a test temperature detection step for detecting a test temperature in testing temperature characteristics, an error measurement step for measuring an amount of an error in the detection result of the test temperature, and a compensation step for compensating for a temperature detecting part for detecting the predetermined temperature based on the measured amount of the error.
温度特性試験時に、試験温度の検出を行なう試験温度検出工程と、試験温度に対する検出結果の誤差量を測定する誤差測定工程と、測定された誤差量に基づき、所定温度を検出する温度検出部の補正を行なう補正工程とを含む。 - 特許庁 - When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.
ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁 - The load testing device 9 arbitrarily sets each transient communication rate of a packet service and a set communication rate duration time to make a fluctuation evaluation of a data communication rate in transmitting and receiving user data to/from a UE 5 from the user data generating/inspecting part 9b through the node B device 4.
負荷試験装置９はユーザデータ生成／検査部９ｂからノードＢ装置４を介してＵＥ５との間でユーザデータの送受信を行う際に、パケットサービスの各過度的な通信レート及び設定通信レート継続時間を任意設定し、データ通信レートの揺らぎ評価を実施する。 - 特許庁 - In the temperature testing device 1, the standby part 4 for temporally standing by the carrier C mounted with the crystal oscillator CR, and the measurement part 5 for measuring the oscillation frequency of the crystal oscillator CR at every temperature accompanied by the temperature change of the crystal oscillator CR are arranged along the X direction.
温度試験装置１には、水晶振動子ＣＲを搭載したキャリアＣを一次待機させる待機部４と、水晶振動子ＣＲの温度変化に伴った各温度における水晶振動子ＣＲの発振周波数を測定する測定部５と、がＸ方向に沿って設けられている。 - 特許庁 - Therefore, the malfunction of the braking force is detected from the changed of the speed of a malfunction testing target wheel, so that an influence due to an error of the wheel speed can be eliminated as compared with a case that the speed of two wheels is compared, and the malfunction of the braking force can be accurately detected.
これにより、失陥検査対象の車輪速度の変動から制動力の失陥が検出されるので、２つの車輪の車輪速度を比較する場合と比較して車輪速度の誤差の影響を排除することができ、制動力の失陥を精度良く検出することができる。 - 特許庁 - The indicator is equipped with: a substrate; an image display portion including multiple pixels which are formed on the substrate and are defined by multiple data lines and multiple scanning lines; a dummy pad portion for testing the image display portion; and a first insulating film covering the dummy pad portion.
本発明による表示装置は、基板と、前記基板上に形成されて複数のデータ線と複数の走査線によって定義される複数の画素を含む画像表示部と、前記画像表示部のテストを行うためのダミーパッド部と、前記ダミーパッド部を覆う第１絶縁膜と、を備える。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing power conversion apparatus, capable of conducting a noise test equivalent to a combined noise test without using a finished-product power converter in the power conversion equipment, and applicable to various types of power converters, in a versatile manner.
組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なうことができるとともに、様々なタイプの電力変換器に汎用的に適用できる電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a diffusion testing device capable of reducing a composition ratio change and a volumetric change caused by evaporation of a sample and capable of more accurately measuring a diffusion factor by sharply reducing solidification when steam of the sample having high steam pressure infiltrates into clearance between rotary shafts and share cells.
蒸気圧の高い試料の蒸気が回転軸やシェアセルの隙間等に侵入して凝固するのを大幅に低減でき、これにより、試料の蒸発に伴う組成比率の変化や体積変化を低減し、拡散係数をより正確に測定することができる拡散試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a timer or the like for taking examination, capable of performing reexamination or correction of answers in a stage of the latter half of test time, while paying attention to the remaining time of a second unit by preparing the answers, while intuitively grasping a rough situation of progress, at the intermediate stage of the testing period.
試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁 - The anti-blocking agent comprises (A) aluminosilicate particles having an X-ray diffraction image characteristic in kaolin and (B) amorphous silica particles at a weight ratio of (A)/(B)=70/30-10/90 and substantially does not cause segregation, when the agent is subjected to the tapping treatment according to the tapping type bulk density testing method.
（Ａ）カオリンに特有のＸ線回折像を有するアルミノケイ酸塩粒子と（Ｂ）非晶質シリカ粒子とを、重量比で、（Ａ）：（Ｂ）＝７０：３０乃至１０：９０の割合で含有してなり、タタキコミカサ比重試験法にしたがってタッピング処理を行ったときに実質上偏析が生じないアンチブロッキング剤。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.
ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁 - The semiconductor testing device, where a test head turns so that a face mounting the performance board is inclined, includes: a sensor for outputting a detection signal by being previously inclined in a turning direction and detecting the inclination of the test head; and a board fixing part for fixing the performance board according to the detection signal.
パフォーマンスボードを載せた面が傾くようにテストヘッドが旋回される半導体試験装置において、旋回方向に予め傾けられ、テストヘッドの傾きを検出して検出信号を出力するセンサと、検出信号に応じてパフォーマンスボードを固定するボード固定部とを備える。 - 特許庁 - To provide a city water meter testing device, capable of knowing the level of a start-up flow rate in a tested city water meter, and capable of precisely attaching a pilot detecting part for generating a pulse signal, in response to the rotation of a pilot, to an indication part of the tested city water meter.
被試験水道メータにおける始動流量の大きさを知ることができるとともに、パイロットの回転に応じたパルス信号を発生するパイロット検出部を、被試験水道メータの指示部に精度よく取りつけることのできる水道メータ試験装置を実現する。 - 特許庁 - The jointed part strength testing machine of the measuring sample jointed to the sample-holding surface of a sample-holding member is equipped with an impact-applying mechanism for applying the impact to the jointed part of the measuring sample from the direction crossing the sample-holding surface at right angles by utilizing the energy when the weight is freely dropped.
試料保持部材の試料保持面に接合された測定試料の接合部強度試験装置であって、錘を自由落下させる際のエネルギーを利用して前記測定試料の接合部に対して試料保持面と直交する方向から衝撃を加える衝撃印加機構を備えた。 - 特許庁 - In this material testing machine, a collar 201b for fixing a grip 8 for holding a sample is made rotatable with respect to a body 202, the body 202 is made rotatable with respect to a color 201a having a constant relative position with a cross head 2, and bolts 203a, 203b, 205a, 205b are provided for regulating their rotating angles.
供試体を把持するグリップ８が固定されるカラー２０１ｂをボディ２０２に対して回転可能とし、かつ、ボディ２０２をクロスヘッド２との相対位置が一定なカラー２０１ａに対して回転可能とするとともに、それらの回転角度調整を行わせるボルト２０３ａ，２０３ｂ，２０５ａ，２０５ｂを設けた。 - 特許庁 - In this semiconductor testing apparatus, a row defective-bit storage memory 3 which corresponds to a spare row circuit and a column defective-bit storage memory 5 which corresponds to a space column circuit are installed separately, and defective bits of the defective-bit storage memories are counted respectively by a row defective-bit counter 4 and a column defective-bit counter 6.
スペア行回路に対応する行不良ビット記憶メモリ（３）およびスペア列回路に対応する列不良ビット記憶メモリ（５）を別々に設け、これらの不良ビット記憶メモリの不良ビットを行不良ビットカウンタ（４）および列不良ビットカウンタ（６）でそれぞれカウントする。 - 特許庁 - This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.
フラッシュメモリ（メモリ部）１１０と、ＣＰＵ（ロジック部）１２０と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストＲＯＭ１３０と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段１５０，１１２とを備える。 - 特許庁 - A part (a part before testing) is taken from the tray TR of a second tray storing part 12 or the like (a first tray placing part) by a head 23 of a P & P robot 20, and the tested part is stored in a tray Tr of a third tray storing part 13 or the like (a second tray placing part) by the head 23.
Ｐ＆Ｐロボット２０のヘッド２３により第２トレイ収納部１２等（第１トレイ載置部）のトレイＴｒから部品（試験前の部品）を取出す一方、試験後の部品をヘッド２３により第３トレイ収納部１３等（第２トレイ載置部）のトレイＴｒに収納するようにした。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.
チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - In this method of testing and inspecting valve, the valve seat sealing function of a valve 11 is confirmed by detecting a pressure fluctuation on the secondary side 11b of the valve 11 under a condition where the valve 11 is totally closed and a pressurized low- or high-temperature fluid is only supplied to the inside of the primary side 11a of the valve 11.
弁１１を全閉状態とし、弁一次側１１ａ内部のみに低温若しくは高温流体を加圧供給した状態下で、弁二次側１１ｂの圧力変動を検知することにより弁座封止機能を確認したバルブの試験・検査方法である。 - 特許庁 - To provide a testing method by which the deterioration state of the sealing part of a double-glazing unit may be recognized with a smaller number of test specimens for a durability test for investigating such deterioration of the double-glazing unit with lapse of time that a desiccant gradually absorbs moisture and dew condensation is liable to occur in a hollow layer.
乾燥剤が徐々に吸湿して、中空層が結露しやすくなるという複層ガラスの経年劣化を調べるための耐久性試験について、少ない試験体数で、耐久性試験による複層ガラスの封着部の劣化状態が把握できる試験方法を提供する。 - 特許庁 - A plurality of periodic time-stamp packets are transmitted to a communications apparatus of a receiver side with a testing transmission rate (R) set currently, and the variation trend of the transmission delay time difference between the time-stamp packets is evaluated, based on the respective times at which the time-stamp packets are received by the communications apparatus of the receiver side.
複数の周期的なタイムスタンプパケットを、受信側の通信装置へ、現在設定されている試験伝送率(R)で伝送し、受信側の通信装置にタイムスタンプパケットのそれぞれが受信された時刻に基づいて、タイムスタンプパケット間の伝送遅延時間差の変化傾向を検査する。 - 特許庁 - This testing device includes one or more substrate receivers for receiving a substrate for display, one or more contact devices, provided with a plurality of contacts pressed to an electrode of the substrate received by the substrate receivers, and a carrying device for carrying the substrate to the substrate receivers and also handing over the substrate.
検査装置は、表示用基板を受ける１以上の基板受けと、該基板受けに受けられた基板の電極に押圧される複数の接触子を備える１以上の接触子装置と、前記基板受けに対し基板を搬送しかつ受け渡す搬送装置とを含む。 - 特許庁 - To provide an optical recording medium capable of preventing the degradation of reproducing signals in the case of preservation under a high temperature over a long period of time, performing stable recording and reproduction before and after the high temperature preservation, accelerating recording and improving a recording density, and its testing method.
高温下で長時間に渡って保存した場合における再生信号の劣化を防止し、高温保存の前後において安定した記録再生を行うことができる上に、記録の高速化や記録密度の向上が可能な光記録媒体及びその試験方法を提供する。 - 特許庁 - Then a terminal 21 for testing as well as grounding and the movable conductor 13 at the side of grounding contact is connected electrically with a secondary flexible conductor 22 within the insulated barrier 20.
そして、接地兼試験用端子２１がその一端を絶縁バリア２０内に延出させ、かつ、他端を絶縁性樹脂５外に延出させるように配設され、接地兼試験用端子２１と接地接点側可動導体１３とが絶縁バリア２０内で第２のフレキシブル導体２２により電気的に接続されている。 - 特許庁 - To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.
通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁 - The sheet connector has an elastic sheet 7 having insulation property, interposed between a testing base board 10 and connection terminals 11, 21 of a semiconductor chip 20, and a conductive thin wire 1 of which, peripheral surface is coated by insulation coating 2, penetrating into and supported by the sheet 7, made to contact with the connection terminals 11, 21 with pressure.
検査基板１０と半導体チップ２０の接続端子１１・２１間に介在する絶縁性で弾性のシート７と、周面が絶縁コート２されてシート７内に並べて貫通支持され、接続端子１１・２１に圧接する複数本の導電細線１とを備える。 - 特許庁 - This device has a globe box 3 with internal and external atmospheres isolated from each other, a gas circulating/refining device 2 for supplying the box 3 with a circulation gas having prescribed constituents and collecting the gas, and a high-pressure device 4 provided in the box 3 and having a high-pressure testing chamber 26 capable of being pressurized to an arbitrary pressure.
内外に雰囲気が遮断されたグローブボックス３と、グローブボックス３に所定成分の循環ガスを供給して回収するガス循環精製装置２と、グローブボックス３内に設けられ、任意の圧力に加圧可能な高圧試験室２６を形成する高圧装置４とを有している。 - 特許庁 - An information transfer processor 2 detects, by using simple processing, at high speed whether the information to be transferred is based on an unauthorized access, and transfers the information based on the authorized access as usual, and transfers only the information whose unauthorized access is suspected not to the original destination but to a detail testing device 3.
まず、情報転送処理装置２において、転送する情報が不正アクセスであるかどうかを簡易な処理により高速に検知し、正規アクセスはそのまま通常通り転送し、不正アクセスの疑いのある情報のみを本来の宛先ではなく、詳細検査装置３に転送する。 - 特許庁 - One point on the calibration curve is the x-intercept value (namely, an estimated or experimental value for the logarithm of the minimum viable aerobic microbe count at a start (t_0) of testing in a sample effective for causing the sample to reach t_threshold substantially instantaneously upon a start of incubation).
較正曲線上の一方の点は、ｘ切片値（すなわち、サンプルを培養の開始時に実質的に即時にｔ_閾値に達するようにさせるのに有効な、サンプル中の試験の開始時（ｔ_０）における最小生存好気性菌数の対数の推定値または実験値）である。 - 特許庁 - This dynamo-electric vibration testing device 1 executes double loop control using feedback control (closed loop control) based on external force calculation processing and external force compensation processing as an inner loop, and further using target following control (open loop control) based on drive waveform generation processing as an outer loop.
動電式振動試験装置１では、外力算出処理及び外力補償処理に基づくフィードバック制御（閉ループ制御）をインナーループとし、さらに、ドライブ波形生成処理に基づく目標追従制御（開ループ制御）をアウターループとする二重ループ制御を行っている。 - 特許庁 - To prevent the accident caused by a high-pressure fluid by reducing the use amount of a fluid, which constitutes a special environment in a load test under the special environment to the utmost by effectively utilizing a conventional testing machine with a pressure-resistant chamber.
特殊環境下での荷重試験を従来ある耐圧室付き試験機を有効に利用し特殊な環境を構成する流体の使用量を極力押さえるのみならず、高圧状態を耐圧室内において生じさせることで、高圧流体による事故を防止するものである。 - 特許庁 - A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.
半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁 - A cell 1 for testing microbeads is arranged in a housing space 39 so that the microbeads 7 are not overlapped each other because the distance between a support substrate 11 and a cover 21 is greater than the thickness D of the microbeads 7 and smaller than twice the thickness D of the microbeads 7.
本発明のマイクロビーズの検査用セル１は、支持基板１１とカバー２１との間の距離が、マイクロビーズ７の厚みＤよりは長く、かつ、マイクロビーズ７の厚みＤの２倍よりは短くなっており、マイクロビーズ７は重なり合うことなく、収容空間３９に配置される。 - 特許庁 - To provide colloid aqueous solution including defectless protein particles and usable instead of the human blood at the testing time of a medical tool or the like or at the experimental training time of a medical diagnosis action or the like, and model blood wherein the protein particles are allowed to simulate erythrocyte in human blood.
医療用具等の試験、あるいは医療診断行為の実験実習などの際にヒトの血液の替わりに使用でき、欠点のないタンパク質粒子を含むコロイド水溶液、およびそのタンパク質粒子をヒト血液中の赤血球に擬した模擬血液を提供する。 - 特許庁 - The latch circuit 1 constituted of two inverters connected in inversely parallel so as to operate as a storage element holding data of one bit is a latch circuit for testing a power source which reverses surely a stored and held logic value when power source voltage is dropped from the rated voltage to the prescribed voltage.
１ビットのデータを保持する記憶素子として働くように逆並列に接続された二つのインバータで構成されるラッチ回路１は、電源電圧が定格電圧から所定の電圧に低下したときに記憶保持する論理値を確実に反転させる電源検査用ラッチ回路である。 - 特許庁 - To provide a testing device, method and program for an exchange controller that can adapt to TCP/IP, decrease the amount of operations for adaptation to different kind of exchanges, adapt to use of a redundancy system and a file transfer protocol, and reduce generating operations for data etc.
ＴＣＰ／ＩＰに対応することができること、異機種交換機への対応作業の作業量を削減することができること、冗長化システム及びファイル転送プロトコルの利用に対応することができること、データ類の作成作業を削減できることを実現できるようにする。 - 特許庁 - An inspection device comprises: at least one socket for mounting an object to be inspected; a plurality of circuit boards each including the at least one socket, for testing the object to be inspected; and a tester head connected electrically to the plurality of circuit boards, for supplying a signal to the object to be inspected.
検査装置は、被検査対象を搭載するための少なくとも１つのソケットと、ソケットを有し、被検査対象を試験するための複数の回路基板と、複数の回路基板と電気的に接続され、被検査対象に信号を供給するためのテスタヘッドと、を備える。 - 特許庁 - To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.
ＬＳＩテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁 - In this evaluation method of the anion-exchange resin for testing an ion exchange capacity relative to the anion-exchange resin taken out from ion exchange equipment, after polystyrene sulfonic acid having a molecular weight below 3,000 is adsorbed onto the anion-exchange resin taken out from the ion exchange equipment, the ion exchange capacity is tested.
イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂についてイオン交換能を試験するアニオン交換樹脂の評価方法において、イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂に分子量３０００以下のポリスチレンスルホン酸を吸着させた後、イオン交換能を試験する。 - 特許庁 - To provide a tester for brake characteristics of tires for making the dynamic characteristics of a vehicle reflect, while the vehicle is braked when a brake characteristic of the tires is evaluated, and moreover easily changing and testing conditions of the vehicle affecting the brake characteristic of the tires.
タイヤの制動特性を評価するに際し車両の制動時の動的特性を反映させることができ、しかも、タイヤの制動特性に影響を与える車両の条件を容易に変更して試験を行うことができるタイヤの制動特性試験装置を提供する。 - 特許庁 - A static electricity eliminating device 29 is mounted to eliminate static electricity of a disc-shaped rubber specimen G in a rubber abrasion testing machine for abrading the rubber specimen G by pressing the rubber specimen G to an outer peripheral face of a rotating disc-shaped grinding wheel 4, while being rotated.
回転する円盤状の砥石４の外周面に円盤状のゴム試験片Ｇを回転させながら押し当てることによりゴム試験片Ｇを摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、ゴム試験片Ｇに対して静電気を除去する静電気除去装置２９を設置する。 - 特許庁 - To disclose a technology for accurately testing the characteristics of a memory array by rechanging reference voltage and timing to be adjusted for a test of memory cells in particular in a software manner without requiring a different process regarding a test mode controller that utilizes a nonvolatile ferroelectric memory.
本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置に関し、特にメモリセルのテストのため調整されるレファレンス電圧及びタイミングを別途のプロセスなくソフトウェア的に再変更し、メモリセルアレイの特性を正確にテストするようにする技術を開示する。 - 特許庁 - The method of testing the weld crack of the aluminum alloy extruded profile comprises fillet welding the section of the aluminum alloy extruded profile 1A having a hollow shape or semi-hollow shape to an aluminum alloy sheet 2 of ≥5 mm in thickness and visually deciding the weld crack of the weld zone.
アルミニウム合金押出形材の溶接割れ試験方法として、中空形状または半中空形状を有するアルミニウム合金押出形材１Ａの断面を、厚さ５ｍｍ以上のアルミニウム合金板２にすみ肉溶接し、該溶接部の溶接割れを目視判定するようにした。 - 特許庁 - The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value.
試験条件によって材料試験機１２のゲインＫact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置１６のＡ／Ｄコンバータ３２へ入力するアナログセンサ信号ＳＳａの増幅率を調節することで、ループゲインＫlpを最適値に調整する。 - 特許庁 - In this immunity testing device, a horn antenna for radiating a test radio wave toward a test apparatus is equipped with a pyramid horn 22 for 1GHz; and a coaxial waveguide converter 24 mounted directly on the pyramid horn 22, capable of feeding a signal in the 1GHz band.
妨害排除能力試験装置において、供試機器に向けて試験用電波を放射するホーンアンテナは、１ＧＨｚ用の角錐ホーン２２と、この角錐ホーン２２に直接装着されて１ＧＨｚ帯の信号を給電可能な同軸導波管変換器２４を備える。 - 特許庁 - This method for testing the therapeutic or prophylactic agent comprises culturing cultured cells in the presence or absence of a specimen, and comparing amounts of expressed genes having specific nucleotide sequences in the cultured cells between the cells cultured in the absence of the specimen and in the presence of the specimen.
培養細胞を被検物質の存在下または非存在下で培養し、次いで、該培養細胞における、特定なヌクレオチド配列を有する遺伝子の発現量を、被検物質非存在下で培養した細胞と、被検物質存在下で培養した細胞との間で比較する。 - 特許庁 - To provide an induction noise bench testing device between two circuits capable of performing an induction noise test by reproducing simulatively a cabling environment so that detection of the optimum design condition of a cable wherein the influence of a crosstalk between mutual signal wires is suppressed to the utmost can be performed easily.
信号線相互間のクロストークの影響を極力抑制したケーブルの最適化設計条件の探知が容易に行えるよう、ケーブリング環境を模擬的に再現して誘導ノイズ試験を行うことができる２回路間の誘導ノイズベンチ試験装置を提供する。 - 特許庁 - A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.
テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁 - The urine testing device comprises a urine-storing cell 8 for storing urine, an emission section 91 for emitting light to urine in the urine- storing cell 8, and a light reception section 71 for receiving light, that has passed the urine and comes from the emission section 91.
尿を貯める貯尿セル８と、前記貯尿セル内８の尿に発光する発光部９１と、尿を通過した発光部９１からの光を受光する受光部７１とを備え、前記貯尿セル内８で尿中の浮遊固形物質を局在化させて旋光性物質の濃度を判定する。 - 特許庁
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