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へいたんどの英語
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「へいたんど」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 6705件
平坦化装置及びヘッド例文帳に追加
PLANARIZING DEVICE AND HEAD - 特許庁
ウエハ平坦度測定法例文帳に追加
WAFER FLATNESS MEASURING METHOD - 特許庁
自動平坦出し機構例文帳に追加
AUTOMATIC PLANARIZING MECHANISM - 特許庁
平坦度測定装置例文帳に追加
FLATNESS MEASURING DEVICE - 特許庁
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「へいたんど」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 6705件
平坦度測定装置及び平坦度測定方法例文帳に追加
FLATNESS MEASURING DEVICE AND FLATNESS MEASURING METHOD - 特許庁
平坦度測定装置および平坦度測定方法例文帳に追加
FLATNESS MEASURING INSTRUMENT AND FLATNESS MEASURING METHOD - 特許庁
平面平坦度測定方法及び平面平坦度測定装置例文帳に追加
PLANE FLATNESS MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁
平坦度測定方法および平坦度測定装置例文帳に追加
FLATNESS MEASUREMENT METHOD AND DEVICE - 特許庁
半導体基板の平坦化装置および平坦化方法例文帳に追加
FLATTENING DEVICE AND FLATTENING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁
半導体基板の平坦化方法および平坦化装置例文帳に追加
FLATENING METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR BOARD - 特許庁
半導体ウエハ平坦化加工方法及び平坦化加工装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR PLANARIZING SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁
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