「へいたんど」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

平坦度測定センサ例文帳に追加

FLATNESS MEASURING SENSOR - 特許庁

平坦度測定装置例文帳に追加

FLATNESS MEASURING DEVICE - 特許庁

平坦度検出装置、および平坦度検出方法例文帳に追加

FLATNESS DETECTION APPARATUS AND FLATNESS DETECTION METHOD - 特許庁

平坦度測定装置及び平坦度測定方法例文帳に追加

FLATNESS MEASURING DEVICE AND FLATNESS MEASURING METHOD - 特許庁

平坦度測定装置および平坦度測定方法例文帳に追加

FLATNESS MEASURING INSTRUMENT AND FLATNESS MEASURING METHOD - 特許庁

平面平坦度測定方法及び平面平坦度測定装置例文帳に追加

PLANE FLATNESS MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁

平坦度測定方法および平坦度測定装置例文帳に追加

FLATNESS MEASUREMENT METHOD AND DEVICE - 特許庁

半導体基板の平坦化装置および平坦化方法例文帳に追加

FLATTENING DEVICE AND FLATTENING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁

半導体基板の平坦化方法および平坦化装置例文帳に追加

FLATENING METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR BOARD - 特許庁

半導体ウエハ平坦化加工方法及び平坦化加工装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR PLANARIZING SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

半導体ウェハの平坦化方法および平坦化装置ならびに平坦度が改善された半導体ウェハ例文帳に追加

LEVELING METHOD AND LEVELING DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER AND SEMICONDUCTOR WAFER OF IMPROVED LEVELING DEGREE - 特許庁

半導体基板の平坦化方法例文帳に追加

PLANARIZATION METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁

平坦化パターン自動生成方法例文帳に追加

PLANARIZATION PATTERN AUTOMATIC FORMATION METHOD - 特許庁

化学機械平坦化用の研磨パッド例文帳に追加

ABRASIVE PAD FOR CHEMICAL MECHANICAL PLANARIZATION - 特許庁

通過帯域平坦度補償回路例文帳に追加

PASS BAND FLATNESS CORRECTION CIRCUIT - 特許庁

平板の平坦度測定装置例文帳に追加

FLATNESS MEASURING APPARATUS OF PLATE - 特許庁

半導体装置用平坦化組成物例文帳に追加

FLATTENING COMPOSITION FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体ウェーハの平坦化方法例文帳に追加

METHOD FOR PLANARIZING SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

平坦度計測方法および装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS - 特許庁

半導体ウエハの平坦化装置例文帳に追加

DEVICE FOR PLANARIZING SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

半導体デバイスの平坦化方法例文帳に追加

METHOD FOR PLANARIZING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

ウェーハの平坦度測定装置例文帳に追加

WAFER FLATNESS MEASURING DEVICE - 特許庁

弁座面の平坦度測定装置例文帳に追加

APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS OF VALVE SEAT SURFACE - 特許庁

半導体基板の平坦化方法例文帳に追加

METHOD FOR FLATTENING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁

ガイドリング及び平坦化装置例文帳に追加

GUIDE RING AND FLATTENING APPARATUS - 特許庁

高平坦度ウェーハの製造方法例文帳に追加

MANUFACTURE OF HIGH-FLATNESS WAFER - 特許庁

半導体平坦化用研磨剤例文帳に追加

POLISHING AGENT FOR FLATTENING SEMICONDUCTOR - 特許庁

高平坦度ウェ—ハの再加工方法例文帳に追加

REPROCESSING METHOD OF WAFER OF HIGH FLATNESS - 特許庁

高平坦度ウェ—ハの製造方法例文帳に追加

MANUFACTURING HIGH FLATNESS WAFER - 特許庁

平坦度良好なロット鋼板例文帳に追加

LOT STEEL PLATE HAVING EXCELLENT FLATNESS - 特許庁

平坦化フィルタ駆動機構例文帳に追加

FLATTENED FILTER DRIVING MECHANISM - 特許庁

高平坦度ウェーハの製造方法例文帳に追加

MANUFACTURE OF WAFER OF HIGH PLANARITY DEGREE - 特許庁

半導体ダイの平坦化方法例文帳に追加

METHOD OF PLANARIZING SEMICONDUCTOR DIE - 特許庁

平坦度測定方法及びその装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS - 特許庁

テクスチャ平坦度判別方法例文帳に追加

METHOD OF JUDGING TEXTURE FLATNESS - 特許庁

平坦度制御方法および装置例文帳に追加

METHOD FOR CONTROLLING FLATNESS DEGREE, AND DEVICE - 特許庁

高平坦度ウェーハの製造方法例文帳に追加

MANUFACTURE OF HIGH FLATNESS WAFER - 特許庁

平坦度計付き圧下矯正機例文帳に追加

REDUCTION CORRECTING MACHINE WITH FLATNESS METER - 特許庁

半導体素子の平坦化方法例文帳に追加

METHOD FOR FLATTENING SEMICONDUCTOR ELEMENT - 特許庁

高平坦度ウェ—ハの加工方法例文帳に追加

PROCESSING METHOD OF WAFER OF HIGH FLATNESS - 特許庁

基板表面の平坦度測定装置例文帳に追加

FLATNESS MEASURING DEVICE FOR SUBSTRATE SURFACE - 特許庁

路面平坦度測定装置用台車例文帳に追加

TRUCK FOR ROAD SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE - 特許庁

平面平坦度測定装置例文帳に追加

PLANE FLATNESS MEASUREMENT DEVICE - 特許庁

平坦度計測方法および装置、並びに平坦度制御方法および装置例文帳に追加

FLATNESS MEASURING METHOD AND APPARATUS AND FLATNESS CONTROL METHOD AND APPARATUS - 特許庁

半導体装置の平坦化方法および半導体装置の平坦化システム例文帳に追加

METHOD OF FLATTENING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE FLATTENING SYSTEM - 特許庁