共通モード故障の英語

故障検出モードでメモリに書き込んだデータを読み出すクロックのタイミングと、擬似メモリアクセスモードでフリップフロップに迂回させたデータを読み出すクロックのタイミングを等しくすることにより、同じタイミングの同一の信号を出力することが可能になり、テストパターンを共通化することが可能になる。例文帳に追加

Equalizing the clock timing for reading data having been written in the memory in the failure detection mode with the clock timing for reading data having been bypassed to the flip-flop in the pseudo memory access mode can realize output of the same signal with the same timing, and thereby achieve commonality of test patterns. - 特許庁

さらに、階調データレジスタ回路１４と階調電圧セレクタ回路１８との間に設けられ、テストモード時において、両回路間に設けられたビット線に含まれる少なくとも一部の複数ビット線を共通ノードを介して互いに接続し、この共通ノードを流れる電流値に基づいて故障検出を行うテスト回路１６を備える。例文帳に追加

The display driver further includes a test circuit 16 that is provided between the gradation data register circuit 14 and the gradation voltage selector circuit 18, the test circuit 16 connecting at least a part of a plurality of bit lines among bit lines provided between both of the circuits through a common node in a test mode, so as to perform failure detection based on a value of current that flows in the common node. - 特許庁