基準板の英語

多層基板の基準孔検査装置例文帳に追加

NOMINAL PRONGS INSPECTION DEVICE OF MULTILAYER SUBSTRATE - 特許庁

基板の基準穴矯正装置および基板の基準穴矯正方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING REFERENCE HOLE OF SUBSTRATE - 特許庁

基準平板１に表示された基準パターンがカメラ５で撮像される。例文帳に追加

A reference pattern displayed on a reference plate 1 is taken by the camera 5. - 特許庁

ＬＣＣ１は、積載板２１、側面基準板２３，２４及び後端基準板等を備えている。例文帳に追加

An LCC (Large Capacity Cassette) 1 comprises a stacking plate 21, side reference plates 23, 24, a rear end reference plate, or the like. - 特許庁

基板収納器のスロットに基準基板を挿入し、センサが基準基板の位置を検出する。例文帳に追加

A reference substrate is inserted into a slot of the substrate storage container, and then a sensor detects the position of the reference substrate. - 特許庁

縦型干渉計用基準板支持枠の基準板変形能測定方法およびこれを用いた縦型干渉計用基準板の選出方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CAPABILITY OF DEFORMING REFERENCE PLATE OF REFERENCE PLATE HOLDING FRAME FOR VERTICAL INTERFEROMETER, AND METHOD OF SELECTING REFERENCE PLATE FOR VERTICAL INTERFEROMETER USING THIS - 特許庁

基準指標板、基準指標板の調整方法、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法例文帳に追加

REFERENCE INDEX PLATE, METHOD FOR ADJUSTING REFERENCE INDEX PLATE, EXPOSING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING MICRO DEVICE - 特許庁

基板Ｓに所定径の第１基準マークＰ１、第３基準マークＰ３および第４基準マークＰ４とこれら基準マークＰ１、Ｐ３、Ｐ４より大きい径の第２基準マークＰ２とを形成する。例文帳に追加

The substrate S is formed with a first reference mark P1, a third reference mark P3 and a fourth reference mark P4 each having a predetermined diameter and a second reference mark P2 having a larger diameter than the above reference marks P1, P2, P4. - 特許庁