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微分計数法の英語
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英訳・英語 differential counting
「微分計数法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1件
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ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。例文帳に追加
In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing. - 特許庁
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1
differential counting
JST科学技術用語日英対訳辞書
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