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欠陥評価法の英語
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英訳・英語 defect assessment method
「欠陥評価法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 220件
半導体基板の欠陥評価方法例文帳に追加
DEFECT EVALUATION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁
結晶欠陥の評価方法例文帳に追加
CRYSTAL-DEFECT EVALUATING METHOD - 特許庁
ピンホール欠陥の評価方法例文帳に追加
EVALUATION METHOD OF PIN HOLE DEFECT - 特許庁
内部欠陥の評価方法例文帳に追加
構造物の欠陥評価方法例文帳に追加
DEFECT EVALUATION METHOD FOR STRUCTURE - 特許庁
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「欠陥評価法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 220件
半導体の欠陥評価方法例文帳に追加
METHOD FOR EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR - 特許庁
絶縁膜の欠陥評価方法例文帳に追加
METHOD FOR EVALUATION DEFECTS IN INSULATING FILM - 特許庁
試料内部欠陥の評価方法例文帳に追加
EVALUATING METHOD OF INTERNAL DEFECT OF SAMPLE - 特許庁
半導体デバイスの欠陥評価方法及び欠陥評価装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING FLAW OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
長尺部材の欠陥評価方法及び長尺部材の欠陥評価装置例文帳に追加
DEFECT EVALUATION METHOD OF LONG MEMBER, AND DEFECT EVALUATION DEVICE OF LONG MEMBER - 特許庁
半導体結晶の欠陥評価方法及び評価装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE OF EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR CRYSTAL - 特許庁
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