欠陥識別の英語

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。例文帳に追加

The header includes a defect list identifier 131 for identifying a defect list, a first update-times information representing the number of times that the defect list has been updated, and a defect entry number 132 representing the number of defect entries. - 特許庁

教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。例文帳に追加

The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position. - 特許庁

そして、選択されたパラメータを用いて、各領域の欠陥識別と欠陥分類とを実施する。例文帳に追加

The defect identification and defect classification of each area are done using the selected parameter. - 特許庁

欠陥エコーと擬似エコーとを識別し、効果的に欠陥の検出ができるタービン発電機エンドリングの欠陥検出方法を実現する。例文帳に追加

To provide a defect detection method of turbine generator end ring, capable of effectively detecting defects by discriminating between a defect echo and a pseudo echo. - 特許庁

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。例文帳に追加

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array. - 特許庁

短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。例文帳に追加

To classify discriminably a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like. - 特許庁

ディスク表面上に形成されたピット欠陥あるいはバンプ欠陥とごみ欠陥との識別精度を向上する。例文帳に追加

To enhance the accuracy of the discrimination between the pit or bump flaw and refuse flaw formed on the surface of a disk. - 特許庁

欠陥の検出と同時に欠陥の表裏判別を行う簡便なガラス基板欠陥の表裏識別方法を提供する。例文帳に追加

To provide a simple inside and outside discrimination method of the flaw of a glass substrate for making the inside and outside discrimination of the flaw simultaneously with the detection of the flaw. - 特許庁