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line defectとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 線状欠陥; 線欠陥
「line defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 531件
LINE DEFECT DETECTION METHOD AND LINE DEFECT DETECTION APPARATUS例文帳に追加
線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置 - 特許庁
ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE FOR STEEL STRIP, AND DEFECT REMOVING METHOD THEREFOR例文帳に追加
金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁
ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE OF METALLIC STEEL STRIP AND ITS DEFECT REMOVING METHOD例文帳に追加
金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁
LINE DEFECT INSPECTION METHOD, LINE DEFECT DETECTION DEVICE, LINE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM例文帳に追加
線欠陥検査方法、線欠陥検出装置、線欠陥検出プログラム、このプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING PENETRATION DEFECT OF LINE AND LINE PENETRATION DEFECT DETECTING APPARATUS USING THE METHOD例文帳に追加
配管の貫通欠陥検知方法およびその方法を用いた配管の貫通欠陥検知装置 - 特許庁
DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加
欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁
The simulation defect sample 10 is so attached to the defect inspecting device that the simulation defect 13 is diagonal to the scan line of the defect inspecting device.例文帳に追加
この模擬欠陥13が欠陥検査装置の走査ラインに対して斜めになるように、模擬欠陥サンプル10を欠陥検査装置に取り付ける。 - 特許庁
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「line defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 531件
To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加
TFTアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁
LINE INSPECTION DEVICE FOR METAL SURFACE DEFECT例文帳に追加
金属表面欠陥ライン検査装置 - 特許庁
To improve the detection accuracy of an adjacent defect line.例文帳に追加
隣接欠陥ラインの検出精度の向上を実現する。 - 特許庁
LINE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE FOR SCREEN例文帳に追加
画面の線欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF LINE WIDTH AND DEFECT例文帳に追加
線幅や欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁
It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁
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