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線欠陥の英語
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英訳・英語 line defect
「線欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1476件
欠陥検出は、配線の欠陥の有無、欠陥位置、ショート欠陥かオープン欠陥かの欠陥種の判別が可能である。例文帳に追加
In the defect detection, whether the wiring has the defect, the defect position, and the defect kind of a short defect or open defect can be identified. - 特許庁
線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置例文帳に追加
LINE DEFECT DETECTION METHOD AND LINE DEFECT DETECTION APPARATUS - 特許庁
前記直線状欠陥は、転位とは異なる欠陥である。例文帳に追加
The linear defect is different from dislocation. - 特許庁
デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。例文帳に追加
To interpolate a spot defect and a line defect of a photographed image caused by image element defects of a digital camera. - 特許庁
配線パターン欠陥確認装置例文帳に追加
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「線欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1476件
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加
A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects. - 特許庁
配線基板の電気的欠陥解析方法および電気的欠陥解析装置例文帳に追加
ELECTRICAL DEFECT ANALYSIS METHOD OF WIRING BOARD AND ELECTRICAL DEFECT ANALYSIS APPARATUS - 特許庁
撮像装置、欠陥検査装置、欠陥検査方法及び電子線検査装置例文帳に追加
IMAGING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD AND ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE - 特許庁
電線の導体欠陥検知方法及び導体欠陥検知用センサ例文帳に追加
METHOD AND SENSOR FOR DETECTING CONDUCTOR DEFECT IN ELECTRIC WIRE - 特許庁
配線パターンの欠陥修正方法及び欠陥修正装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT IN WIRING PATTERN - 特許庁
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加
It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect. - 特許庁
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加
Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect. - 特許庁
線欠陥検査方法、線欠陥検出装置、線欠陥検出プログラム、このプログラムを記録した記録媒体例文帳に追加
LINE DEFECT INSPECTION METHOD, LINE DEFECT DETECTION DEVICE, LINE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM - 特許庁
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