欠陥試験の英語

磁気ディスクの表面欠陥検出装置及び摩擦試験装置例文帳に追加

MAGNETIC DISC SURFACE DEFECT DETECTOR AND FRICTIONAL TESTER - 特許庁

磁気ディスク媒体の表面欠陥試験方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SURFACE FLAW IN MAGNETIC DISK MEDIUM - 特許庁

欠陥の検査を安価、短時間、及び容易に行うことができる欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a defect inspection device, a specimen for an electronic device, and a defect inspection method, capable of inexpensively and easily inspecting a defect in a short time. - 特許庁

試験対象プログラムに試験を行い、合否結果が不合格となった試験を表す試験情報番号、およびこの試験を試験対象プログラムに行うことによって生じる現象を表す欠陥現象情報を含む欠陥情報を作成する。例文帳に追加

A program to be tested is tested, and defect information, including a test information number for indicating a test that resulted in rejection and defect phenomenon information for indicating a phenomenon generated by performing the test to the program to be tested, is created. - 特許庁

欠陥波形の検出を容易に行い、欠陥の探傷を向上できる超音波探傷試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of ultrasonic flaw detection/examination for improving defect detection by facilitating detection of a defect waveform. - 特許庁

特殊な接合装置を必要とすることなく、簡単に亀裂状の内部欠陥を有する非破壊検査用有欠陥試験体を製作する。例文帳に追加

To easily manufacture a specimen with a defect for a nondestructive inspection, which has a crack-shape internal defect, without a special bonding device required. - 特許庁

メモリ試験の欠陥サマリイメージから要修復行又は要修復列によって欠陥をフィルタリングする方法及び装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for filtering failures due to must-repair rows and columns from a memory test fail summary image. - 特許庁

ポリシリコン成形体の汚染および破壊のない試験法および欠陥のないポリシリコン成形体例文帳に追加

NONDEFECTIVE POLYSILICON MOLDING AND METHOD FOR TESTING POLYSILICON MOLDING WITHOUT CONTAMINATION NOR DESTRUCTION - 特許庁