組込み試験装置の英語

メモリ回路用の組込み自己試験装置例文帳に追加

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT - 特許庁

より具体的に言えば、第１の態様で、デュアル・モードＢＩＳＴ制御装置は、論理組込み形自己試験（「ＬＢＩＳＴ」）領域とメモリ組込み形自己試験（「ＭＢＩＳＴ」）領域の両方を含む。例文帳に追加

More particularly, in a first aspect, a dual mode BIST controller comprises both a logic built-in self-test ('LBIST') domain and a memory built-in self-test ('MBIST') domain. - 特許庁

所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference. - 特許庁

集積回路デバイス上で組込み形自己試験（「ＢＩＳＴ」）を実行するための方法および装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for performing a built-in self-test ('BIST') on an integrated circuit device. - 特許庁