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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > 組込み自己の英語・英訳 

組込み自己の英語

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Weblio専門用語対訳辞書での「組込み自己」の英訳

組込み自己

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「組込み自己」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 21



例文

組込み自己試験回路例文帳に追加

INCORPORATED SELF-TEST CIRCUIT - 特許庁

組込み自己テスト回路及び設計検証方法例文帳に追加

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD - 特許庁

集積回路用の組込み自己テスト階層例文帳に追加

BUILT-IN SELF TEST HIERARCHY FOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

メモリ回路用の組込み自己試験装置例文帳に追加

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT - 特許庁

組込み自己検査回路、LSI、半導体装置、及びシステムボード例文帳に追加

BUILT-IN SELF-INSPECTING CIRCUIT, LSI, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SYSTEM BOARD - 特許庁

アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。例文帳に追加

Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit. - 特許庁

例文

より具体的に言えば、第1の態様で、デュアル・モードBIST制御装置は、論理組込み自己試験(「LBIST」)領域とメモリ組込み自己試験(「MBIST」)領域の両方を含む。例文帳に追加

More particularly, in a first aspect, a dual mode BIST controller comprises both a logic built-in self-test ('LBIST') domain and a memory built-in self-test ('MBIST') domain. - 特許庁

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「組込み自己」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 21



例文

ここに提案するプログラマブルメモリBIST(組込み自己試験)アーキテクチャは、メモリをその製造過程の異なる段階でテストするのに使われよう。例文帳に追加

The proposed programmable memory BIST (Built-In Self Test) architectures could be used to test memories in different stages of their fabrication.発音を聞く  - コンピューター用語辞典

組込み自己試験及びデバッグ機能を有する同時コードチェッカー及びハードウエア効率的高速I/O例文帳に追加

SIMULTANEOUS CODE CHECKER AND HARDWARE EFFICIENT HIGH-SPEED I/O HAVING BUILT-IN SELF-TEST AND DEBUG FUNCTION - 特許庁

暗号化機能はドライブおよび/またはその専用コントローラの組込み機能または自己充足機能である。例文帳に追加

The encryption function is a built-in function or a self-contained function of the drive and/or its dedicated controller. - 特許庁

集積回路デバイス上で組込み自己試験(「BIST」)を実行するための方法および装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for performing a built-in self-test ('BIST') on an integrated circuit device. - 特許庁

自己発生暗号鍵を使用する組込み暗号化機能を有するデータ記憶装置(磁気ディスク・ドライブ等)を得る。例文帳に追加

To provide a data storage device (such as a magnetic disk drive) which has a built-in encryption function using a self-generated cipher key. - 特許庁

簡素な回路構成を備えながらも、テストパターン数を削減することなく、多種のテストパターンによって高品質のテストを行うことができる組込み自己テスト回路を提供する。例文帳に追加

To provide a built-in self-test circuit capable of conducting a test having high quality by various test patterns without decreasing the number of test patterns while having simple circuit constitution. - 特許庁

より効率的に製造できそして充分に小型化できるシステムを提案するとともに大きく自己充足的に作動し、できる限り外部貯蔵部と接続される必要がない組込み型システムを作ることを目的とする。例文帳に追加

To provide a system by which production is more efficiently performed and miniaturization is sufficiently attained and also to obtain an incorporation type system which is largely operated in terms of self-sufficiency and is not required to be connected to an external storage part. - 特許庁

例文

組込み自己試験(BIST)に用いることができる高速入力/出力回路(HSIO)試験回路及び方法を含むインタフェース試験回路及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide an interface test circuit and a method including a high-speed input/output circuit (HSIO) test circuit and method which can be used for assembled self-test (BIST). - 特許庁

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