built-in selfとは 意味・読み方・使い方

BUILT-IN-TYPE SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

組み込み型自己テスト回路およびテスト方法 - 特許庁

SOC WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT, AND SELF-TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ、及びそのセルフテスト方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD例文帳に追加

組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁

TFT ARRAY BUILT-IN SELF-INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

ＴＦＴアレイ・ビルトイン・セルフ検査装置と検査方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

To provide a semiconductor IC circuit which accomplishes a BIST(built in self test), whitout having to provide an exclusive test terminal.例文帳に追加

テスト専用端子を設けることなくＢＩＳＴ（Built In Self Test）を行うことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁