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RANDOM SCANとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 ランダムスキャン
「RANDOM SCAN」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 31件
SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加
スキャン方式3重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁
To detect a fault on a scan chain using a random pattern.例文帳に追加
ランダムパターンを用いてスキャンチェーン上の故障を検出すること。 - 特許庁
To effectively utilize scan information by embedding information other than that of a transmitted image to the scan information representing a scan direction or a scan sequence in the case of transmitting pixels at random.例文帳に追加
ランダムに画素を伝送する場合に、スキャン方向またはスキャン順を示すスキャン情報に伝送画像以外の情報を埋め込み、スキャン情報を有効に利用する。 - 特許庁
Also, the output registers 9, 18 are constituted of flip-flop with scan, and flip-flop with scan constitutes scan path for the bit of random access memories 6, 15 having the same address constitution.例文帳に追加
また、出力レジスタ9,18は、スキャン付きフリップフロップで構成され、スキャン付きフリップフロップはアドレス構成が同一のランダムアクセスメモリ6,15のビットについてスキャンパスを構成する。 - 特許庁
When scan action incapable of detecting coherent light in nonprojection periods have continued a specified number of times, this photoelectric sensor varies the scan cycle at random.例文帳に追加
非投光期間において干渉光を検出できないスキャン動作が所定回数連続したときは、スキャン周期をランダムに可変する。 - 特許庁
When signals in a scan clock unit outputted from a random pattern generator 102 for generating pseudo random signals at prescribed periods are matched with patterns in a scan clock unit inputted to the scan chain 101 of the ATPG patterns, a scan clock selection decoder 103 supplies a clock for inputting the signals in a scan clock unit outputted from the random pattern generator 102.例文帳に追加
スキャンクロック選択デコーダ103は、所定周期の擬似ランダム信号を発生するランダムパタン発生器102から出力されるスキャンクロック単位の信号とATPGテストパタンの前記スキャンチェーン101に入力されるスキャンクロック単位のパタンとが一致するときに、前記ランダムパタン発生器102から出力されるスキャンクロック単位の信号を入力するためのクロックをスキャンチェーン101に供給する。 - 特許庁
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「RANDOM SCAN」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 31件
A plurality of scan path registers are connected by an array of static random access memory (SRAM) units of a plurality of memory cells.例文帳に追加
複数のスキャンパスレジスタは、複数のメモリセルからなるスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)アレイによって接続される。 - 特許庁
In this test faciliting circuit, the LFSR is composed of scan flip-flops 107 arranged regularly in a scan chain 109, an output value from the inspected circuit 101 are pattern-compressed, and signature is scanned in the scan chain 109 as a pseudo-random number sequence.例文帳に追加
スキャンチェーン109中で規則的に配列されたスキャンフリップフロップ107を用いてLFSRを構成し、被検査回路101からの出力値をパターン圧縮し、シグニチャを擬似乱数列としてスキャンチェーンにスキャンインする。 - 特許庁
The pattern generation circuit 30 inputs a random pattern RPAT into input terminals (P1, P2) of the N scan chains (11, 12), respectively.例文帳に追加
パターン生成回路30は、N本のスキャンチェーン(11,12)のそれぞれの入力端子(P1,P2)にランダムパターンRPATを入力する。 - 特許庁
A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.例文帳に追加
テスト対象回路(700)と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン(650)と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第1乱数発生回路(100)とを設ける。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加
回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
A regional connection order decision part 103 decides connection order of a scan path circuit within an area divided by an allocation area division part 102 at random.例文帳に追加
領域内接続順序決定部103は、配置領域分割部102によって分割された領域内のスキャンパス回路の接続順序をランダムに決定する。 - 特許庁
In this case, the possibility of executing the same interference-avoiding action as in other multiple optical axis photoelectric sensors is very low, because this varies the scan cycle at random.例文帳に追加
この場合、スキャン周期をランダムに可変することから、他の多光軸光電センサと同一の干渉回避動作を実行してしまう可能性は極めて低い。 - 特許庁
For example, when a flash scan execution protocol works as the interruption protocol, contrast bubbles that present in a photographing region can be destroyed easily and quickly at random timing.例文帳に追加
例えば、フラッシュスキャン実行プロトコルを割り込みプロトコルとすることで、撮影領域に存在する造影剤バブルを任意のタイミングで簡単且つ迅速に破壊することができる。 - 特許庁
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