鉱量計算の英語

白色光源７を有する光源部２と、分光器９と受光器１０を有する測定部１と、計算機１２を有するデータ処理部３とを含み、被測定試料８の基板８ａ上のウルツ鉱型半導体膜８ｂのＡ、Ｂ、Ｃ励起子吸収ピークエネルギーを測定することにより、ウルツ鉱型半導体膜８ｂの歪量を測定する。例文帳に追加

This method includes a light source 2 having a white light source 7, a measuring part 1 having a spectroscope 9, and a light receiver 10, and a data processor 3 having a computer 12, and measures the distortion of the wurtzite semiconductor film 8b by measuring the A, B, C exciter absorption peak energy of the film 8b on the substrate 8a of a sample to be measured 8. - 特許庁