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RANDOM TESTとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 乱数試験
「RANDOM TEST」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 125件
TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST例文帳に追加
ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁
Ueli Maurer's Universal Statistical Test for Random Bit Generators( MUST ) quickly measures the entropy of a sample.発音を聞く 例文帳に追加
Ueli Maurer 氏の Universal Statistical Test for Random Bit Generators(MUST)は、サンプルデータのエントロピーを高速に測定します。 - FreeBSD
TEST CIRCUIT FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT例文帳に追加
乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法 - 特許庁
SRAM (STATIC RANDOM ACCESS MEMORY) AND SRAM TEST METHOD例文帳に追加
SRAM(StaticRandomAccessMemory)、及びSRAMのテスト方法 - 特許庁
RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁
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「RANDOM TEST」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 125件
SRAM (STATIC RANDOM ACCESS MEMORY) AND TEST METHOD OF SRAM例文帳に追加
SRAM(StaticRandomAccessMemory)、及びSRAMのテスト方法 - 特許庁
To provide a test method for radiation of a SDRAM (synchronized dynamic random access memory).例文帳に追加
SDRAM(synchronized dynamic random access memory)の放射線試験方法を提供する。 - 特許庁
DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置およびその検査方法 - 特許庁
SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加
スキャン方式3重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁
METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加
スキャン方式3重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁
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