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RANDOM TESTとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 乱数試験

コンピューター用語辞典での「RANDOM TEST」の意味

random test


「RANDOM TEST」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 125



例文

RANDOM NUMBER TEST CIRCUIT例文帳に追加

乱数検定回路 - 特許庁

RANDOM VIBRATION TEST CONTROL APPARATUS例文帳に追加

ランダム振動試験制御装置 - 特許庁

TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST例文帳に追加

ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁

Ueli Maurer's Universal Statistical Test for Random Bit Generators( MUST ) quickly measures the entropy of a sample.発音を聞く 例文帳に追加

Ueli Maurer 氏の Universal Statistical Test for Random Bit Generators(MUST)は、サンプルデータのエントロピーを高速に測定します。 - FreeBSD

TEST CIRCUIT FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法 - 特許庁

SRAM (STATIC RANDOM ACCESS MEMORY) AND SRAM TEST METHOD例文帳に追加

SRAM(StaticRandomAccessMemory)、及びSRAMのテスト方法 - 特許庁

例文

RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁

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JST科学技術用語日英対訳辞書での「RANDOM TEST」の意味

random test


日英・英日専門用語辞書での「RANDOM TEST」の意味

random test

ランダムテスト,乱数試験

「RANDOM TEST」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 125



例文

SRAM (STATIC RANDOM ACCESS MEMORY) AND TEST METHOD OF SRAM例文帳に追加

SRAM(StaticRandomAccessMemory)、及びSRAMのテスト方法 - 特許庁

RANDOM KEYING TEST METHOD AND TESTER例文帳に追加

ランダム打鍵試験方法及び試験機 - 特許庁

To provide a test method for radiation of a SDRAM (synchronized dynamic random access memory).例文帳に追加

SDRAM(synchronized dynamic random access memory)の放射線試験方法を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY RAM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

A random odd number is a lot harder to test.例文帳に追加

ランダムな奇数の場合 調べるのはずっと難しい - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置およびその検査方法 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式3重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

例文

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式3重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

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