double sampling inspectionとは 意味・読み方・使い方

The inspection device for inspecting a plurality of semiconductor elements by using parallel processing through being connected to them, respectively, comprises a drive circuit for outputting a drive signal to the semiconductor elements; a correlated double sampling circuits for eliminating the noise of the image signals outputted from the semiconductor elements; and a serial processing circuit for converting the signals outputted from the respective correlation double sampling circuits into a single serial signal.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体素子を並列処理によって検査する半導体素子の検査装置であって、検査の対象となる複数の半導体素子のそれぞれに接続され、半導体素子に駆動信号を出力する駆動回路と、半導体素子のそれぞれに接続され、該半導体素子から出力される画像信号のノイズを除去する相関２重サンプリング回路とを備え、相関２重サンプリング回路のそれぞれから出力される出力信号を一つのシリアル信号に変換するシリアル処理回路が設けられている。 - 特許庁

The DA converter evaluation and inspection apparatus is provided with a changeover switch SW21 between the DA converter 201 and the output end of a correlated double sampling circuit 101 and the input end of an AD converter 102, and is provided with a changeover switch SW12 between a serial interface 301 and the output end of a digital signal processor 103 and the output end of the DA converter 201.例文帳に追加

ＤＡコンバータ２０１および相関二重サンプリング回路１０１の出力端とＡＤコンバータ１０２の入力端との間に切替スイッチＳＷ２１を設け、シリアルインターフェース３０１およびデジタルシグナルプロセッサ１０３の出力端とＤＡコンバータ２０１の出力端との間に切替スイッチＳＷ１２を設ける。 - 特許庁