probe characteristicとは 意味・読み方・使い方

SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS, SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS METHOD, AND PROBE UNIT例文帳に追加

表面特性解析装置、表面特性解析方法およびプローブユニット - 特許庁

CHARACTERISTIC INSPECTION APPARATUS, TAPE SUBSTRATE, CHARACTERISTIC INSPECTION METHOD, AND PROBE NEEDLE POLISH METHOD例文帳に追加

特性検査装置、テープ基板、特性検査方法およびプローブ針の研磨方法 - 特許庁

PROBE FOR ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT OF FLAT DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

平面表示装置基板の電気特性測定用プローブ - 特許庁

NEAR FIELD PROBE, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD HAVING NEAR FIELD PROBE例文帳に追加

近接場プローブ、この近接場プローブを備えた電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法 - 特許庁

PROBE FOR MEASURING CHARACTERISTIC OF MOLTEN METAL AND METHOD FOR FITTING THIS PROBE TO SUB-LANCE例文帳に追加

溶融金属の特性測定用プローブ及び該プローブのサブランスへの装着方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND CHARACTERISTIC VALUE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

プローブカード、特性値測定装置、及び、特性値測定方法 - 特許庁

QUADRUPLE PROBE HEAD AND EVALUATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERISTIC例文帳に追加

４探針プローブヘッドおよび半導体特性の評価方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF PROBE FOR HIGH FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASUREMENT, HIGH FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE USING PROBE, AND PROBE FOR HIGH FREQUENCY MEASUREMENT例文帳に追加

高周波特性測定用プローブの校正方法、このプローブを用いた電子デバイスの高周波特性測定方法、および高周波測定用プローブ - 特許庁