probe characteristicsとは 意味・読み方・使い方

CONDUCTIVE NANOTUBE PROBE, ELECTRICAL CHARACTERISTICS EVALUATION APPARATUS USING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE DRAWING DEVICE, METHOD, AND INSULATION CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE例文帳に追加

探針描画装置および方法および絶縁特性評価装置 - 特許庁

STYLUS PRESSURE ADJUSTMENT PROBE CARD, STYLUS PRESSURE ADJUSTMENT METHOD FOR PROBE STYLUS, AND CHARACTERISTICS INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

針圧調整用プローブカード、プローブ針の針圧調整方法および半導体装置の特性検査方法 - 特許庁

To simulate agglutination characteristics between a surface having an interaction and a probe.例文帳に追加

相互作用を持つ表面と探針との凝着特性をシミュレートする。 - 特許庁

Probe position determining means 29 compares characteristics of the ultrasonic image with characteristics of the reference image.例文帳に追加

プローブ位置判定手段２９は、超音波画像の特徴と、参照画像の特徴とを比較する。 - 特許庁

To improve efficiency in transmission of probe data, in consideration of the characteristics of data to be transmitted by a probe car.例文帳に追加

プローブカーが送信するべきデータの性質に着目して、プローブデータの送信の効率化を実現すること。 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

A transistor 6 varies in its characteristics, responding to a contact pressure, applied to it by the probe 3 when the probe 3 is positioned on the transistor 6.例文帳に追加

プローブ３がトランジスタ６上に位置すると、トランジスタ６はプローブ３の接触圧力を受けてトランジスタ特性が変化する。 - 特許庁