「probe characteristics」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CONTACT PROBE, PROBE SOCKET, ELECTRIC CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS, CONTACT PROBE PRESSING METHOD例文帳に追加

コンタクトプローブ及びプローブソケット及び電気特性測定装置並びにコンタクトプローブの押し当て方法 - 特許庁

Probe position determining means 29 compares characteristics of the ultrasonic image with characteristics of the reference image.例文帳に追加

プローブ位置判定手段２９は、超音波画像の特徴と、参照画像の特徴とを比較する。 - 特許庁

To simulate agglutination characteristics between a surface having an interaction and a probe.例文帳に追加

相互作用を持つ表面と探針との凝着特性をシミュレートする。 - 特許庁

PROBE DRAWING DEVICE, METHOD, AND INSULATION CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE例文帳に追加

探針描画装置および方法および絶縁特性評価装置 - 特許庁

JUNCTION-TYPE PROBE FOR ELECTRICAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電気特性測定用接合型プローブとその製造方法 - 特許庁

To provide a conductive nanotube probe with reduced electric resistance, and an electrical characteristics evaluation apparatus and a scanning microscope which use the probe.例文帳に追加

電気抵抗を低減した導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

STYLUS PRESSURE ADJUSTMENT PROBE CARD, STYLUS PRESSURE ADJUSTMENT METHOD FOR PROBE STYLUS, AND CHARACTERISTICS INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

針圧調整用プローブカード、プローブ針の針圧調整方法および半導体装置の特性検査方法 - 特許庁

To provide a contact probe and probe unit that acquire stable conduction characteristics during inspection.例文帳に追加

検査時に安定した導通特性を得ることができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a probe that confirms the state of the probe for inspecting electric characteristics of a body to be inspected, and a curing resin composition used therefor.例文帳に追加

被検査体の電気的特性を検査するプローブの状態を確認するプローブ検査方法とそれに用いる硬化性樹脂組成物の提供。 - 特許庁

To provide a probe and a spectrometer capable of efficiently measuring a sample reaction product using the reflection and permeation characteristics by one probe.例文帳に追加

反射特性と透過特性によるサンプル反応生成物の測定を効率良くひとつのプローブで行えるプローブと分光計を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal probe with excellent temperature characteristics, capable of reducing the diameter of the probe and simplifying the manufacture and assembly processes.例文帳に追加

プローブが細径化でき、製造及び組立工程が簡略化可能で、かつ温度特性の優れた走査型共焦点プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a probe card for measuring various electric characteristics of a semiconductor device such as an LSI chip.例文帳に追加

本発明はＬＳＩチップなどの半導体デバイスの電気的諸特性を測定するプローブカードのプローブを提供することを目的とする。 - 特許庁

A transistor 6 varies in its characteristics, responding to a contact pressure, applied to it by the probe 3 when the probe 3 is positioned on the transistor 6.例文帳に追加

プローブ３がトランジスタ６上に位置すると、トランジスタ６はプローブ３の接触圧力を受けてトランジスタ特性が変化する。 - 特許庁

To improve efficiency in transmission of probe data, in consideration of the characteristics of data to be transmitted by a probe car.例文帳に追加

プローブカーが送信するべきデータの性質に着目して、プローブデータの送信の効率化を実現すること。 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

PROBE MICROPHONE SYSTEM WITH FLAT FREQUENCY CHARACTERISTICS AND ELECTRONIC MUTING SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

周波数特性が平坦なプローブマイクロホン装置及びそれを使用した電子消音システム - 特許庁

PROBE WHERE WORK FUNCTION TO MEASURE CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR WAFER IS CONTROLLED AND USING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体ウエハの特性を測定するための仕事関数が制御されたプローブとその使用方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

ＳＰＭの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a coaxial waveguide converter which can maintain the conversion characteristics of a probe favorably.例文帳に追加

プローブの変換特性を良好に維持させることが可能な同軸導波管変換器を提供すること。 - 特許庁

At each of the respective locations, a respective contact characteristics between the probe and a tissue in the body cavity is measured.例文帳に追加

各位置それぞれにて、プローブと体腔内の組織との間の各接触特性が測定される。 - 特許庁

To provide an inexpensive and low contact probe terminal having satisfactory electrical characteristics.例文帳に追加

安価、低背でかつ電気特性の良いコンタクトプローブ端子を提供することを目的とする。 - 特許庁

Additionally, plasma characteristics are changed, and the distance between the probe and the sample is controlled according to the sample.例文帳に追加

また、プラズマ特性を変化させ、プローブ・試料間距離を試料に応じて制御する。 - 特許庁

Upon ending current application, the application needle is used as a probe for inspecting the electrical characteristics.例文帳に追加

電流印加の終了後、その印加針をプローブとして用いて、電気的特性を検査する。 - 特許庁

The ultrasonic vibrator of this ultrasonic probe 2 has characteristics of a wide range of frequency band.例文帳に追加

超音波プローブ２の超音波振動子は、周波数帯域が超広範な特性を有する。 - 特許庁

Characteristics of the electrical currents are measured and are used to generate an approximation of the known position of the reference probe.例文帳に追加

電流の特性を測定し、その測定値を使って基準プローブの既知の位置の近似値を求める。 - 特許庁

A branch type probe is used for contact with an object for testing to detect the electric characteristics.例文帳に追加

分岐型プローブが、その電気的特性を検出するために、テスト用物体との接触に使われる。 - 特許庁

To provide a probe unit mounted on a probe card and its manufacturing method, as to a probe card for measuring the electrical characteristics of a semiconductor device such as an LSI chip.例文帳に追加

本発明はＬＳＩチップなどの半導体デバイスの電気的諸特性を測定するプローブカードに関し、上記プローブカードに装着されるプローブユニットと、その製造方法を提供する。 - 特許庁

When the length of the probe cable 20 is different, the capacitance component or the like of a signal line within the probe cable 20 changes and it is thought that the transmission/reception characteristics of ultrasonic waves change for each probe cable 20 or the like as a result.例文帳に追加

プローブケーブル２０の長さが異なるとプローブケーブル２０内の信号線の容量成分などが変化し、その結果としてプローブケーブル２０ごとに超音波の送受信特性が変化してしまうことなどが考えられる。 - 特許庁

To facilitate the confirmation for aligning the positions of respective electrodes when establishing contact of a probe block electrode with an electrode of a liquid crystal panel, in a probe block for an inspection probe device for inspecting the electric characteristics of the liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルの電気特性を検査する検査用プローブ装置のプローブブロックにおいて、プローブブロック電極と液晶パネルの電極とを接触させる際における相互の電極の位置合わせ確認を容易にする。 - 特許庁

By such constitution, the dimension 1 of projection of the probe 5 and the dimension d between the probe 5 and the terminal 6 are kept with high accuracy, and the deterioration of the conversion characteristics of the probe 5 can be prevented.例文帳に追加

このような構成により、プローブ５の突出寸法ｌやプローブ５と終端部６間の寸法ｄが高精度に維持され、プローブ５の変換特性の劣化を防止することができる。 - 特許庁

To provide a probe for preventing solder from being transcribed on the probe, and maintaining antiwear property and stable electrical characteristics with respect to the probe for use in an electrical characteristic inspection of a semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子の電気的特性の検査に用いられるプローブに関し、プローブへのハンダ転写防止と耐磨耗性・安定した電気的特性を維持できるプローブを提供しようとするものである。 - 特許庁

To provide a means for preventing electrostatic breakdown of an IC chip based on a charged probe card, in a probe device which investigates the electrical characteristics of an IC chip on a wafer by using a probe card.例文帳に追加

プローブカードを用いてウエハ上のＩＣチップの電気的特性を調べるプローブ装置において、プローブカードが帯電していることに基づくＩＣチップの静電破壊を防止する手段の提供。 - 特許庁

To provide a probe card capable of accurately inspecting electric characteristics of an object by avoiding the structure of the probe card from being complicated and surely contacting a probe needle with an electrode part so as to decrease the frequency of withdrawal, and to provide a measuring method using the same.例文帳に追加

プローブカードの構造を複雑にせず、更に、電極部に対し確実にプローブ針を接触させ外れる頻度を減らし、正確な電気特性検査ができるプローブカード及びプローブカードの測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe connecting a piezoelectric plate and an FPC (Flexible Printed Circuit) board without causing deterioration of acoustic characteristics of the ultrasonic probe and to provide an ultrasonic imaging apparatus and an ultrasonic probe manufacturing method.例文帳に追加

超音波探触子の音響特性の劣化が伴わない圧電板とＦＰＣ板との接続を行う超音波探触子、超音波イメージング装置および超音波探触子製造方法を実現する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic vibrator having excellent electrical characteristics and acoustic characteristics, an ultrasonic probe equipped with the ultrasonic vibrator and ensuring production of a high resolution image, and an ultrasonic diagnostic apparatus equipped with the ultrasonic probe.例文帳に追加

電気特性と音響特性に優れた超音波振動子と、超音波振動子を備え、高解像度の画像を得ることができる超音波探触子およびこの超音波探触子を備えた超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe with excellent sensitivity for freely selecting the value of acoustic impedance and enabling the band widening of acoustic characteristics, especially frequency characteristics, respectively requested to the ultrasonic probe.例文帳に追加

音響インピーダンスの値を自由に選択でき、超音波探触子にそれぞれ要求される音響特性、特に周波数特性の広帯域化を可能にするとともに、良好な感度を有する超音波探触子を提供する。 - 特許庁

To improve mechanical characteristics, including tensile strength and fatigue strength, in a probe for measuring the electrical characteristics of an electronic circuit to be measured, by bringing the probe into contact with a terminal part thereof, with the probe being used fixed to a support substrate on which a circuit is formed.例文帳に追加

回路が形成された支持基板に取り付けて用いられ、被測定電子回路の端子部に接触させてその電気的特性を測定するためのプローブにおいて、引張り強さや疲労強度等の機械的特性をより向上させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a substrate for probe cards constituting a probe card capable of accurately inspecting the electric characteristics of electrode pads arranged on a semiconductor element such as an LSI chip of advanced high integration and to provide a laminate for probe cards; a probe card using the laminate for probe cards; and a semiconductor wafer inspection apparatus using the probe card.例文帳に追加

高集積化が進んだＬＳＩチップ等の半導体素子上に配列された電極パッドの電気的特性を正確に検査できるプローブカードを構成するプローブカード用基板およびプローブカード用積層体、さらに、このプローブカード用積層体を用いたプローブカードおよびこのプローブカードを用いた半導体ウエハ検査装置を提供すること。 - 特許庁

This molecular probe is used for detecting the environmental change, wherein the molecular probe is coupled with at least one pigment and optical characteristics of the probe change responding to oxidation stress, so that the molecular probe detects the environmental change which may produce an effect on an organism.例文帳に追加

環境の変化を検出するための分子プローブであって、該分子プローブは少なくとも１つの色素が結合されており、酸化ストレスに応答してプローブの光学的性質が変化することを特徴とする生体に影響を及ぼしうる環境の変化を検出するための分子プローブ。 - 特許庁

This probe for the surface enhanced vibration spectroscopic analysis has characteristics wherein the probe is formed so as to have a cantilever style, and a plurality of metal particles are dispersed inside the probe, and the plurality of metal particles are disposed from the probe surface.例文帳に追加

表面増強振動分光分析用プローブであって、該プローブはカンチレバーに形成されており、該プローブの内部には複数の金属微粒子が分散しており、かつ該プローブの表面に複数の該金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用プローブ。 - 特許庁

To provide a substrate for a probe card which has less deformation in the substrate for fixing a probe even if increasing through holes, and allows the probe to accurately measure the electric characteristics of a part where a semiconductor chip is used; a probe card; and a semiconductor wafer inspection device using the same.例文帳に追加

貫通孔が増えてもプローブを固定するための基板の変形が少なく、プローブが半導体チップとなる部分の電気的特性を正確に測定することができるようにするためのプローブカード用基板，プローブカードおよびこれを用いた半導体ウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe capable of efficiently inspecting continuity characteristics of a highly integrated electronic component, preventing the damage of wiring or a terminal in inspection, preventing the coming-off of a projection of the probe in manufacturing or inspection, suitably inspecting parallel wiring, and coping with slight displacement of the probe, and to provide the manufacturing method of the probe.例文帳に追加

高集積化電子部品の導通特性を効率的に検査でき、検査時に配線や端子を傷めることなく、プローブの突起が製作時や検査時に脱落せず、平行な配線の検査に適し、若干のプローブの位置ずれにも対応可能なプローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a checking probe card capable of reducing a sticking amount of an foreign substance to a probe needle, which is a problem occurring when inspecting two electric characteristics of an IC chip comprising many input/output pads at the same time, preventing a contact between probe needles, and making replacing and adjusting operations of the probe needle easy.例文帳に追加

多くの入出力パッド有するＩＣチップの電気的特性を２つ同時に検査する際に問題となるプローブ針への異物の付着量を低減するとともに、プローブ針同士の接触を防止し、さらにはプローブ針の交換、調整作業を容易にした検査用プローブカードを提供する。 - 特許庁

When the probe 12 is brought into contact with the surface of a sample, the leading end part of the probe 12 becomes a superconductive state by the pressure applied to the leading end part of the probe and the current-voltage characteristics between the probe 12 and the sample 13 are changed by Andreev reflection.例文帳に追加

探針１２を試料１３の表面に接触させると、それに伴って探針１２の先端部に加わる圧力によりこの先端部が超伝導状態となり、探針１２と試料１３との間の電流−電圧特性がアンドレーエフ反射により変化する。 - 特許庁

To compensate a Z-directional displacement quantity of a probe caused by deformation of a probe card due to a contact pressure of the probe and to always keep a contact pressure between the probe and an electrode pad of a semiconductor device constant for measuring electric characteristics in a stable condition.例文帳に追加

触針の接触圧によるプローブカードの変形に伴って生じる触針のＺ方向の変位量の補償を行え、触針と半導体デバイスの電極パッドとの接触圧を常に一定にして、安定した状態で電気的特性の測定が行える。 - 特許庁