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scanning electron microscopic observationとは 意味・読み方・使い方
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該当件数 : 2件
METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁
(A) Pore size: 4-10 nm, (B) Pore volume: ≥0.60 mL/g, (C) Sphericity: ≥0.95 of a silica particle deemed as spherical as expressed by ratio of lengths of minor axis (D_S) to major axis (D_L) (D_S/D_L) determined by scanning electron microscopic observation.例文帳に追加
(A)細孔径が4〜10nm、(B)細孔容積が0.60ml/g以上、(C)シリカ粒子の球状換算として、走査型電子顕微鏡観察による短軸(D_S)と長軸(D_L)との長さの比(D_S/D_L)で表される真球度が0.95以上。 - 特許庁
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