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storage testingとは 意味・読み方・使い方
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「storage testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 185件
TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁
ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS AND COLDNESS STORAGE DEVICE例文帳に追加
環境試験装置及び蓄冷器 - 特許庁
METHOD OF TESTING MAGNETIC STORAGE DEVICE, AND MAGNETIC STORAGE DEVICE例文帳に追加
磁気記憶装置の試験方法及び磁気記憶装置 - 特許庁
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「storage testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 185件
TESTING/DIAGNOSING METHOD AND TESTING/DIAGNOSING DEVICE FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
記憶装置の試験・診断方法および試験・診断装置 - 特許庁
A testing data control unit 145 retrieves a storage where [testing data A] are present based on an indication transmitted from a control unit 15 and indicates a testing data switching unit 144 to select the testing data A from a testing data storage 141 when the testing data A are present in the testing data storage 141.例文帳に追加
試験データ制御部145は制御部15からの送信指示に基づいて、「試験データA」がある格納部を検索し、試験データAが試験データ格納部141にある場合、試験データ切替部144に試験データ格納部141からの試験データ選択を指示する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体装置、および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびその試験方法 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁
IC TESTING DEVICE, ITS CONTROL METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
IC試験装置、その制御方法、及び記憶媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置とその試験方法 - 特許庁
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