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wafer contaminationとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 ウエハ汚染
「wafer contamination」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 436件
METAL CONTAMINATION EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER AND METAL CONTAMINATION EVALUATION METHOD OF EPITAXIAL WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハの金属汚染評価方法およびエピタキシャルウェーハの金属汚染評価方法 - 特許庁
MONITOR WAFER FOR CONTAMINATION DETECTION, CONTAMINATION DETECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL WAFER例文帳に追加
汚染検出用モニターウェーハ、汚染検出方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法 - 特許庁
EVALUATING METHOD OF DOPANT CONTAMINATION OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエーハのドーパント汚染の評価方法 - 特許庁
METAL CONTAMINATION PREVENTION AGENT FOR SEMICONDUCTOR WAFER POLISHING AGENT例文帳に追加
半導体ウエーハ研磨剤用金属汚染防止剤 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER AND SILVER CONTAMINATION EVALUATING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体ウェーハおよびその銀汚染評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING Cu CONTAMINATION IN SEMICONDUCTOR SILICON WAFER例文帳に追加
半導体シリコンウェーハ中のＣｕ汚染評価方法 - 特許庁
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「wafer contamination」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 436件
MEASUREMENT OF CONTAMINATION ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハの表面の汚染物の測定方法 - 特許庁
ANALYZING METHOD OF METALLIC CONTAMINATION ON SURFACE OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハ表面の金属汚染分析方法 - 特許庁
To provide a method of evaluating the metal contamination of a wafer which can evaluate the metal contamination of a silicon wafer or epitaxial wafer in high sensibility.例文帳に追加
シリコンウェーハまたはエピタキシャルウェーハの金属汚染を、高感度に評価する可能なウェーハの金属汚染評価方法を提供する。 - 特許庁
CONTAMINATION PREVENTION DEVICE, CONTAMINATION PREVENTION METHOD, EXPOSURE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERNED WAFER例文帳に追加
汚染防止装置、汚染防止方法、露光装置、及びパターン付きウエハの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MONITORING ORGANIC CONTAMINATION ON SURFACE OF COMPOUND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
化合物半導体ウェハ表面の有機汚染モニタリング方法 - 特許庁
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