例文 (999件) |
"ELECTRON-MICROSCOPE"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1746件
SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査形電子顕微鏡 - 特許庁
MAGNETIC ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
磁性電子顕微鏡 - 特許庁
ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
分析電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡 - 特許庁
RADIATION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
放射電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
写像型電子顕微鏡 - 特許庁
LABELING FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用標識 - 特許庁
SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相差電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加
電子顕微鏡装置 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡 - 特許庁
COMPLEX ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
複合電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE ANALYZER例文帳に追加
電子顕微鏡分析装置 - 特許庁
TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡 - 特許庁
PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
光電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE ADJUSTING METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡調整法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡システム及び電子顕微鏡法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND TV DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡および電子顕微鏡用TV検出器 - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料ホルダ及び電子顕微鏡 - 特許庁
OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の運転方法及び電子顕微鏡 - 特許庁
TEST PIECE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料ホルダおよび電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND OBSERVATION METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡装置および電子顕微鏡観察方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE CONTROLLER, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡システムおよび電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡,電子顕微鏡用画像再構成システム、および電子顕微鏡用画像再構成方法 - 特許庁
ELECTRODE RING AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電極リング及び電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡の走査回路 - 特許庁
LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁
GRID MESH FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用グリッドメッシュ - 特許庁
CARTRIDGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用カートリッジ - 特許庁
VACUUM CONTAINER AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
真空容器および電子顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料ホルダー - 特許庁
OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用対物レンズ - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE STAGE例文帳に追加
電子顕微鏡および試料ステージ - 特許庁
IMAGING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用撮像装置 - 特許庁
X-RAY DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用X線検出器 - 特許庁
SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁
SAMPLE STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の試料ステージ - 特許庁
HOLOGRAPHIC ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
ホログラフィ電子顕微鏡 - 特許庁
OBJECTIVE LENS SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
対物レンズ系及び電子顕微鏡 - 特許庁
EMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
エミッション型電子顕微鏡 - 特許庁
ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
エネルギフィルタ及び電子顕微鏡 - 特許庁
SHUTTER DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡のシャッタ装置 - 特許庁
SAMPLE HEATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料加熱装置 - 特許庁
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