例文 (332件) |
"force microscope"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 332件
CONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
接触式原子間力顕微鏡 - 特許庁
MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC-FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡用の磁性探針 - 特許庁
NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁
INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBER AND INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用プローバ及び原子間力顕微鏡 - 特許庁
MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁
MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE (MRFM), AND MAGNETIC CHIP FOR MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気共鳴力顕微鏡および磁気共鳴力顕微鏡用磁気チップ - 特許庁
NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND STATIC ELECTRICITY MICROSCOPE例文帳に追加
非接触原子間力顕微鏡、磁気力顕微鏡、および静電気力顕微鏡 - 特許庁
CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁
METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡における試料観察方法および原子間力顕微鏡 - 特許庁
ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁
CANTILEVER WITH FORCE AZIMUTH SENSOR FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用力方位センサ付カンチレバー - 特許庁
CANTILEVER PROBE STRUCTURE, AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置 - 特許庁
CANTILEVER WITH HIGH PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用背高探針付き片持ちレバー - 特許庁
CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用カンチレバー - 特許庁
MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁
FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁
EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁
FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡用の磁界発生装置 - 特許庁
MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁
STANDARD SAMPLE FOR ELECTRIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
電気力顕微鏡用標準試料 - 特許庁
OPTICAL-LEVER TYPE OPTICAL SYSTEM FOR INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用光てこ光学系 - 特許庁
DEVICE FOR IMPRESSING VERTICAL MAGNETIC FIELD FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡の垂直磁場印加装置 - 特許庁
SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁
SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁
An atomic force microscope is equipped with an AFM scanner and a sample mounting stand.例文帳に追加
原子間力顕微鏡は、AFMスキャナおよび試料載置台を備える。 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡 - 特許庁
例文 (332件) |
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