「"interference measuring～"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LIGHT WAVE INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

光波干渉測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

干渉測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

干渉計測装置 - 特許庁

LIGHT WAVE INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

光波干渉測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

干渉計測装置 - 特許庁

DYNAMIC INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND DYNAMIC INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

動的干渉計測装置および動的干渉計測方法 - 特許庁

PHASE INTERFERENCE MEASURING METHOD AND PHASE INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

位相干渉計測手法及び位相干渉計測装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

干渉測定装置及び干渉測定方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD, AND INTERFERENCE MEASURING SYSTEM例文帳に追加

干渉測定方法及び干渉測定システム - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

干渉計測方法および干渉計測装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

干渉測定方法及び干渉測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS AND INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

干渉計測装置および干渉計測方法 - 特許庁

POINT DIFFRACTION INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

点回折干渉計測装置 - 特許庁

INTERFEROMETER AND INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

干渉計及び干渉計測法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND INTERFEROMETER例文帳に追加

干渉測定方法および干渉計 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND INTERFEROMETER例文帳に追加

干渉測定方法及び干渉計 - 特許庁

WRAPAROUND INTERFERENCE-MEASURING APPARATUS例文帳に追加

回り込み妨害測定装置 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

電磁妨害波測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT FOR WAVELENGTH CALIBRATION例文帳に追加

波長較正用干渉測定装置 - 特許庁

SHEARING INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

シアリング干渉計測装置 - 特許庁

IDENTICAL CHANNEL INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

同一チャネル干渉測定装置 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE MEASURING APPARATUS, OPTICAL INTERFERENCE MEASURING METHOD, OPTICAL ELEMENT, AND EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

光干渉測定装置、光干渉測定方法、光学素子、及び露光装置 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND OPTICAL INTERFERENCE MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

光干渉測定装置およびこれを用いた光干渉測定方法 - 特許庁

FLAT SURFACE INTERFERENCE MEASURING METHOD AND FLAT SURFACE INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

平面干渉計測方法および平面干渉計測装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE, INTERFERENCE MEASURING METHOD, AND SURFACE WORKING METHOD OF OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

干渉測定装置、干渉測定方法、及び光学素子の表面加工方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ABSOLUTE DISTANCE OF LASER INTERFERENCE MEASURING DEVICE, AND LASER INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

レーザ干渉測長装置の絶対距離測定方法、及びレーザ干渉測長装置 - 特許庁

ATOM INTERFEROMETER AND ATOMIC INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

原子干渉計および原子干渉測定方法 - 特許庁

SHEARING INTERFERENCE MEASURING METHOD AND SHEARING INTERFEROMETER例文帳に追加

シアリング干渉測定方法及びシアリング干渉計 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND LINEAR ENCODER例文帳に追加

干渉測定装置及びリニアエンコーダ - 特許庁

SHEARING INTERFEROMETER AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

シヤリング干渉計及び干渉計測装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

干渉計測方法および干渉計測装置 - 特許庁

OPTICAL WAVE INTERFERENCE MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

光波干渉測定方法及び装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND INTERFERENCE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

干渉測定装置及び干渉測定方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

干渉測定方法及び干渉測定システム - 特許庁

LIGHT WAVE INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光波干渉測定装置および光波干渉測定方法 - 特許庁

WHITE INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

白色干渉計測装置及び方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

干渉測定装置、露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

干渉計測装置、露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING MEASUREMENT ORIGIN例文帳に追加

干渉測定装置及び測定原点決定方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS AND LATERAL COORDINATE MEASURING METHOD例文帳に追加

干渉測定装置および横座標計測方法 - 特許庁

INTER-TARGET ABSOLUTE DISTANCE MEASUREMENT METHOD OF TRACKING LASER INTERFERENCE MEASURING APPARATUS AND TRACKING LASER INTERFERENCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

追尾式レーザ干渉測定装置の標的間絶対距離計測方法および追尾式レーザ干渉測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD, INTERFEROMETER, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

干渉計測方法、干渉計、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE MEASURING METHOD USING PARALLEL OPTICAL HETERODYNE DETECTION METHOD例文帳に追加

並列光ヘテロダイン検出法を用いた光干渉計測方法 - 特許庁

INTERFEROMETER, INTERFERENCE MEASURING METHOD, AND PRODUCTING TECHNIQUE OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

干渉計、干渉測定方法、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

INTERFERENCE FRINGE ANALYSIS METHOD, INTERFERENCE FRINGE ANALYSIS PROGRAM AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

干渉縞解析方法、干渉縞解析プログラム、及び干渉測定装置 - 特許庁