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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "test program"に関連した英語例文

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"test program"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 547



例文

TEST PROGRAM GENERATOR例文帳に追加

テストプログラムジェネレータ - 特許庁

LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

負荷試験プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM CHECKING APPARATUS例文帳に追加

テストプログラムチェック装置 - 特許庁

TEST PROGRAM MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム管理システム - 特許庁

例文

DATABASE SYSTEM TEST PROGRAM例文帳に追加

データベースシステムテストプログラム - 特許庁


例文

TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム生成システム - 特許庁

TEST PROGRAM DEVELOPING DEVICE例文帳に追加

テストプログラム開発装置 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATIVE SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム生成システム - 特許庁

TEST PROGRAM EVALUATING DEVICE例文帳に追加

テストプログラム評価装置 - 特許庁

例文

TEST PROGRAM TRANSFER SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム転送システム - 特許庁

例文

TEST PROGRAM DEVELOPMENT DEVICE例文帳に追加

テストプログラム開発装置 - 特許庁

TEST PROGRAM FORMATION PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム作成プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM COLLATING DEVICE例文帳に追加

テストプログラム照合装置 - 特許庁

DEBUG METHOD FOR TEST PROGRAM例文帳に追加

テストプログラムのデバッグ方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION DEVICE AND TEST PROGRAM GENERATION METHOD例文帳に追加

テストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATING DEVICE AND TEST PROGRAM GENERATING SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム生成装置及びテストプログラム生成システム - 特許庁

TEST PROGRAM FOR APPLICATION PROGRAM例文帳に追加

アプリケーションプログラムのテストプログラム - 特許庁

AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム自動生成システム - 特許庁

APPARATUS FOR GENERATING IC TEST PROGRAM例文帳に追加

ICテストプログラム作成装置 - 特許庁

TEST PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加

試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置及び試験プログラム - 特許庁

AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATOR, AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATING METHOD, AND AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム自動生成装置、テストプログラム自動生成方法及びテストプログラム自動生成プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM CREATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム生成方法、プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム生成方法、プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM AND TEST METHOD例文帳に追加

試験プログラムおよび試験方法 - 特許庁

MIGRATION TEST PROGRAM CREATION DEVICE, MIGRATION TEST PROGRAM CREATION METHOD, AND MIGRATION TEST PROGRAM CREATION PROGRAM例文帳に追加

移行検査プログラム作成装置、移行検査プログラム作成方法および移行検査プログラム作成プログラム - 特許庁

The test program output part 104 outputs the generated test program to a test program 106.例文帳に追加

テストプログラム出力部104は、生成したテストプログラムをテストプログラム106に出力するものである。 - 特許庁

TEST PROGRAM CREATION SYSTEM, TEST PROGRAM CREATION PROGRAM, AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST PROGRAM UNIT SYSTEM AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

テストユニット装置および試験装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM例文帳に追加

半導体試験プログラム検査装置及び半導体試験プログラム検査方法 - 特許庁

UNIT TEST PROGRAM AUTOMATIC GENERATION METHOD例文帳に追加

単体テストプログラム自動生成方式 - 特許庁

The test program is divided plurality to execute the test program with a proper interval.例文帳に追加

テストプログラムを複数に分割し、適当な間隔でテストプログラムを実行させる。 - 特許庁

TEST PROGRAM AUTOMATIC CREATION DEVICE AND METHOD, AND TEST PROGRAM AUTOMATIC CREATION PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム自動作成装置及び方法、並びにテストプログラム自動作成プログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS, METHOD OF TESTING, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

TEST SYSTEM, TEST METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テストシステム、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁

This device is an improved test program generation device for generating the test program from the template of the test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムのテンプレートからテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

AUTOMATIC GENERATION METHOD FOR COMPILER TEST PROGRAM例文帳に追加

コンパイラテストプログラムの自動生成方法 - 特許庁

TEST PROGRAM DEBUG DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, TEST PROGRAM DEBUG METHOD, AND TEST METHOD例文帳に追加

テストプログラムデバッグ装置、半導体試験装置、テストプログラムデバッグ方法、及び試験方法 - 特許庁

TEST PROGRAM PREPARING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

テストプログラム作成装置およびその方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATING METHOD FOR LOGICAL INSPECTION例文帳に追加

論理検証用テストプログラム生成方法 - 特許庁

METHOD OF GENERATING TEST PROGRAM FOR COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コンピュータプログラムのテストプログラム生成方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR TEST PROGRAM AND METHOD例文帳に追加

情報処理装置試験プログラム及び方法 - 特許庁

TEST PROGRAM, TEST DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験プログラム、試験装置、および試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム、試験方法、及び試験プログラム - 特許庁

A test program includes a plurality of processing units.例文帳に追加

テストプログラムは複数の処理単位を含む。 - 特許庁

TEST METHOD, TEST PROGRAM, AND TEST DEVICE例文帳に追加

試験方法,試験プログラム,及び試験装置 - 特許庁

IC TESTER, IC TEST METHOD, IC TEST PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING IC TEST PROGRAM例文帳に追加

ICテスタ、ICテスト方法、ICテストプログラムおよびICテストプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

TEST PROGRAM, TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験プログラム、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

例文

The generation of the test program is performed by use of a test program-generating component group 101, a test program-generating component embodiment part 102, a random number generator 103, and a test program generator 100 having a test program output part 104.例文帳に追加

テストプログラムの生成は、テストプログラム生成用部品群101と、テストプログラム生成用部品具現化部102と、乱数器103と、テストプログラム出力部104とを備えたテストプログラム生成器100を用いて行われる。 - 特許庁




  
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