意味 | 例文 (999件) |
位置合わせの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 11552件
電子部品の位置合わせ方法および位置合わせ用端子例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENTS AND TERMINAL FOR ALIGNMENT - 特許庁
位置合わせ測定方法及び位置合わせ測定装置例文帳に追加
ALIGNMENT MEASURING METHOD AND ALIGNMENT MEASURING APPARATUS - 特許庁
画像の位置合わせ方法および位置合わせ装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR POSITIONING IMAGE - 特許庁
基板の位置合わせ装置、及び基板の位置合わせ方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR POSITIONING SUBSTRATE - 特許庁
位置合わせ装置及び位置合わせ方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR POSITIONING - 特許庁
シート体の位置合わせ装置および位置合わせ方法例文帳に追加
SHEET MATERIAL POSITIONING DEVICE AND POSITIONING METHOD - 特許庁
位置合わせ装置および位置合わせ方法例文帳に追加
POSITIONING DEVICE AND POSITIONING METHOD - 特許庁
位置合わせ方法および位置合わせ装置例文帳に追加
POSITIONING METHOD AND POSITIONING DEVICE - 特許庁
位置合わせ方法、および位置合わせ装置例文帳に追加
POSITIONING METHOD AND POSITIONING DEVICE - 特許庁
位置合わせシステム及び位置合わせ方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR POSITIONING - 特許庁
位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法例文帳に追加
ALIGNMENT APPARATUS, DEFECT DETECTION DEVICE AND ALIGNMENT METHOD - 特許庁
ウエハの位置合わせ装置及びウエハの位置合わせ方法例文帳に追加
WAFER POSITIONING DEVICE AND WAFER POSITIONING METHOD - 特許庁
位置合わせ方法および位置合わせ制御システム例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD AND ALIGNMENT CONTROL SYSTEM - 特許庁
位置合わせ装置および位置合わせ方法例文帳に追加
POSITIONING APPARATUS AND METHOD - 特許庁
位置合わせ装置及び位置合わせ方法及び重ね合わせ装置例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR ALIGNMENT, AND POSITIONS SUPERPOSING DEVICE - 特許庁
位置合わせ方法、インプリント方法、位置合わせ装置、及び位置計測方法例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD, IMPRINT METHOD, ALIGNMENT DEVICE, AND POSITION MEASUREMENT METHOD - 特許庁
位置決め用マ—ク、位置決め方法および位置合わせ方法例文帳に追加
MARK FOR POSITIONING, POSITIONING METHOD AND ALIGNING METHOD - 特許庁
書類位置合わせ検出システム、書類位置合わせシステム、及び書類位置合わせ方法例文帳に追加
DOCUMENT ALIGNMENT DETECTION SYSTEM, DOCUMENT ALIGNMENT SYSTEM AND DOCUMENT ALIGNMENT METHOD - 特許庁
位置合わせ方法および位置合わせ支援装置ならびに位置合わせ支援プログラム例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD, ALIGNMENT SUPPORT APPARATUS, AND ALIGNMENT SUPPORT PROGRAM - 特許庁
それにより、本体の位置合わせマークがウェブ45の位置合わせマークと位置合わせされる。例文帳に追加
By this structure, the positioning mark of the main body is positioned with the positioning mark of the web 45. - 特許庁
《印刷で, 位置合わせ用の》トンボ例文帳に追加
register marks - 研究社 英和コンピューター用語辞典
二次電子像位置合わせ方法例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD FOR SECONDARY ELECTRON IMAGE - 特許庁
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