試料を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 22490件
試料噴射装置例文帳に追加
SAMPLE INJECTION DEVICE - 特許庁
試料搬送装置例文帳に追加
SAMPLE CONVEYANCE DEVICE - 特許庁
試料加工方法例文帳に追加
SAMPLE PROCESSING METHOD - 特許庁
試料恒温装置例文帳に追加
SAMPLE THERMOSTATIC APPARATUS - 特許庁
試料分解装置例文帳に追加
SAMPLE DECOMPOSING DEVICE - 特許庁
試料採取装置例文帳に追加
SAMPLE COLLECTION APPARATUS - 特許庁
試料分析装置例文帳に追加
SAMPLE ANALYSIS DEVICE - 特許庁
試料ガス化装置例文帳に追加
SAMPLE GASIFICATION DEVICE - 特許庁
試料保持装置例文帳に追加
SAMPLE HOLDING DEVICE - 特許庁
試料作成装置例文帳に追加
SAMPLE PREPARATION DEVICE - 特許庁
試料検査方法例文帳に追加
SAMPLE INSPECTION METHOD - 特許庁
試料検査装置例文帳に追加
SAMPLE INSPECTION EQUIPMENT - 特許庁
(1)試料調製例文帳に追加
(1) Sample Preparation Procedures - 経済産業省
試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法例文帳に追加
SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION DEVICE AND SAMPLE INSPECTING METHOD - 特許庁
試料分析用試薬、試料分析用試薬キット及び試料分析方法例文帳に追加
REAGENT FOR SAMPLE ANALYSIS, REAGENT KIT FOR SAMPLE ANALYSIS, AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁
電子顕微鏡の試料ホルダー、試料台および試料台用治具例文帳に追加
SAMPLE HOLDER, SAMPLE TABLE AND SAMPLE TABLE FIXTURE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
試料部50は、試料(インクやトナーなどの試料)を保持する。例文帳に追加
The sample portion 50 holds a sample (such as ink and toner). - 特許庁
複数の試料容器、特にNMR試料管を用意するための試料枠例文帳に追加
SAMPLE FRAME FOR PREPARING TWO OR MORE SAMPLE VESSELS ESPECIALLY NMR SAMPLE TUBES - 特許庁
試料検査装置,試料表示装置、および試料表示方法例文帳に追加
SAMPLE INSPECTING DEVICE, SAMPLE DISPLAY DEVICE, AND SAMPLE DISPLAYING METHOD - 特許庁
試料加工方法、試料加工装置および試料加工プログラム例文帳に追加
SPECIMEN MACHINING METHOD, SPECIMEN MACHINING APPARATUS, AND SPECIMEN MACHINING PROGRAM - 特許庁
TEM試料作製方法、TEM試料及び薄片試料例文帳に追加
TEM SAMPLE PREPARATION METHOD, TEM SAMPLE, AND THIN SECTION SAMPLE - 特許庁
試料検査装置及び試料検査方法並びに試料検査システム例文帳に追加
SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD, AND SAMPLE INSPECTION SYSTEM - 特許庁
試料輸送用ユニット、試料輸送容器、並びに、試料輸送方法例文帳に追加
SAMPLE TRANSPORTING UNIT, SAMPLE TRANSPORTING CONTAINER AND METHOD OF TRANSPORTING SAMPLE - 特許庁
試料保持体及び試料検査装置並びに試料検査方法例文帳に追加
SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION METHOD - 特許庁
試料作製方法および試料作製装置ならびに試料観察装置例文帳に追加
SAMPLE PREPARATION METHOD DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION DEVICE - 特許庁
試料測定装置、試料測定システム及び試料測定方法例文帳に追加
SAMPLE MEASURING APPARATUS, SAMPLE MEASURING SYSTEM AND SAMPLE MEASURING METHOD - 特許庁
ハンダ試料の作製方法、ハンダ試料及びハンダ試料の分析方法例文帳に追加
PREPARING METHOD OF SOLDER SAMPLE, SOLDER SAMPLE, AND ANALYSIS METHOD OF SOLDER SAMPLE - 特許庁
試料加工方法、試料加工装置及び試料観察方法例文帳に追加
SAMPLE MACHINING METHOD, SAMPLE MACHINING DEVICE AND SAMPLE OBSERVING METHOD - 特許庁
試料容器の保管ラック、試料容器、および試料保管用セット例文帳に追加
STORAGE RACK FOR SAMPLE CONTAINER, SAMPLE CONTAINER, AND SAMPLE STORING SET - 特許庁
試料測定装置および試料測定装置の試料台調節方法例文帳に追加
SAMPLE MEASURING APPARATUS AND SAMPLE STAGE ADJUSTING METHOD OF SAMPLE MEASURING APPARATUS - 特許庁
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