意味 | 例文 (951件) |
BEAM CURRENTの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 951件
This integrated circuit is then irradiated with a beam to cause a thermoelectromagnetic force current in the semiconductor integrated circuit, thereby inducing a magnetic field, and the intensity of this field is detected to inspect defects of the semiconductor integrated circuit from the detected magnetic field strength.例文帳に追加
基板上に第n層目配線34を形成し、その上の絶縁層32に、第n層目配線34と第n+1層目配線とを接続する回路用ビア35と、第n層目配線34に接続され、第n+1層目配線と接続されない検査用ビア305とを少なくとも1つ以上形成したのち、第n+1層目配線を形成するために少なくとも第n層目配線34が存在する領域よりも広い領域に第n+1層目配線用導電膜36を形成してなる製造途中の半導体集積回路に、ビームを照射し、前記ビームの照射により前記半導体集積回路中に熱起電力電流が生じて誘起される磁場の強度を検出し、検出した磁場の強度により前記半導体集積回路の欠陥を検査する。 - 特許庁
意味 | 例文 (951件) |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |