意味 | 例文 (3件) |
MUNKを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
The control circuit 51 is formed so as to calculate, by using a deformed equation formed by applying a correction by the Saderson's correcting equation to the equation of Kubelka-Munk theory, the water content of the measured object based on light reflactance data led from the output signals from the silicon diode 62 and the light reflectance data led from the output signals from pyroelectric element.例文帳に追加
制御回路51は、クベルカ−ムンクの式にサンダーソンの補正式による補正を施した変形式を用いて、シリコンフォトダイオード62の出力信号から導かれる光反射率データと焦電素子の出力信号から導かれる光反射率データから測定対象物の含水率を算出する。 - 特許庁
The unique reflectance R∞ and a scattering coefficient Sx of a color material to be used for printing are calculated, the calculated unique reflectance R∞, the scattering coefficient Sx and spectral reflectance Rg of the object printing base material A are used to calculate object printing base material solid prediction reflectance R according to Kubelka-Munk theory, and colorimetric values are calculated from the object printing base material solid prediction reflectance R.例文帳に追加
印刷に使用する色材の固有反射率R∞、散乱係数Sxを算出し、算出された固有反射率R∞、散乱係数Sxと、対象印刷基材Aの分光反射率Rgとを用いて、クベルカ・ムンク理論に従い、対象印刷基材ベタ予測反射率Rを算出し、この対象印刷基材ベタ予測反射率Rから測色値を算出する。 - 特許庁
意味 | 例文 (3件) |
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