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「Measurement Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Measurement Methodの意味・解説 > Measurement Methodに関連した英語例文

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Measurement Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 10176



例文

MASS MEASUREMENT METHOD AND MASS MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

質量測定方法および質量測定装置 - 特許庁

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

膜厚測定装置および膜厚測定方法 - 特許庁

DNA MEASUREMENT APPARATUS AND DNA MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

DNA計測装置、及びDNA計測方法 - 特許庁

HIGH PRECISION FLOWRATE MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

精密流量測定方法及び測定装置 - 特許庁

例文

THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASUREMENT SYSTEM AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

三次元形状計測システム及び計測方法 - 特許庁


例文

SHAPE MEASUREMENT APPARATUS AND SHAPE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

形状測定装置および形状測定方法 - 特許庁

SHAPE MEASUREMENT METHOD AND SHAPE MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加

形状測定方法および形状測定装置 - 特許庁

INJECTION MEASUREMENT METHOD AND INJECTION MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

注入計測方法及び注入計測装置 - 特許庁

CABLE CONNECTION METHOD FOR MEASUREMENT例文帳に追加

計測用ケーブル接続方法 - 特許庁

例文

BURNT GAS BEHAVIOR MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

既燃ガス挙動計測方法 - 特許庁

例文

MEASUREMENT METHOD FOR STRESS FREQUENCY例文帳に追加

応力頻度の計測方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD OF SURFACE SHAPE例文帳に追加

表面形状計測方法 - 特許庁

LASER MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

レーザ計測システム及び方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

X線回折測定方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD FOR AFFINITY SUBSTANCE例文帳に追加

親和性物質測定方法 - 特許庁

TEST MEASUREMENT EQUIPMENT AND METHOD例文帳に追加

試験測定機器及び方法 - 特許庁

HIGH-SENSITIVITY MEASUREMENT METHOD FOR STEROID例文帳に追加

ステロイドの高感度測定法 - 特許庁

LENGTH MEASUREMENT METHOD FOR EXISTING PIPE例文帳に追加

既設管路の測長方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER DISTORTION MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

光ファイバ歪み計測方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD FOR SURFACE SHAPE例文帳に追加

表面形状測定方法 - 特許庁

MEASUREMENT PROMOTION DEVICE, MEASUREMENT PROMOTION SYSTEM, MEASUREMENT PROMOTION METHOD AND MEASUREMENT PROMOTION PROGRAM例文帳に追加

測定促進装置、測定促進システム、測定促進方法及び測定促進プログラム - 特許庁

MEASUREMENT SYSTEM, PLATE MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT CONTROL PROGRAM, AND CONTROL METHOD FOR MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

計測システム、板状計測装置、計測制御プログラム及び計測システムの制御方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND PRODUCTION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

測定方法及び生産管理方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加

計測方法及びパターン形成方法 - 特許庁

FLATNESS MEASUREMENT METHOD AND FLATNESS MEASUREMENT PROGRAM例文帳に追加

平面度測定方法及び平面度測定プログラム - 特許庁

FLOW MEASUREMENT DEVICE AND FLOW MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

流量計測装置および流量計測方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

三次元計測装置及び三次元計測方法 - 特許庁

ABRASION LOSS MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

摩耗量測定方法及び摩耗量測定装置 - 特許庁

TIRE TREAD SURFACE STATE MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

タイヤ踏面状態測定装置及び測定方法 - 特許庁

OPTICAL MEASUREMENT METHOD AND OPTICAL MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

光学的測定方法及び光学的測定装置 - 特許庁

SIGNAL MEASUREMENT PROCESSOR AND SIGNAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

信号測定処理装置および信号測定方法 - 特許庁

PATTERN MEASUREMENT APPARATUS, PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン計測装置、パターン計測方法およびプログラム - 特許庁

BLAST FURNACE TAPPING TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

高炉出銑温度測定方法及び測定装置 - 特許庁

AZIMUTHAL ANGLE MEASUREMENT METHOD AND AZIMUTHAL ANGLE MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

方位角測定方法及び方位角測定装置 - 特許庁

GAS PARTIAL PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND GAS PARTIAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

ガス分圧測定装置及びガス分圧測定方法 - 特許庁

GAS CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND GAS CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

ガス濃度計測装置及びガス濃度計測方法 - 特許庁

AZIMUTH ANGLE MEASUREMENT DEVICE AND AZIMUTH ANGLE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

方位角計測装置及び方位角計測方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT REAGENT OF TARGET SUBSTANCE例文帳に追加

標的物質の測定方法および測定試薬 - 特許庁

SPECIMEN MEASUREMENT METHOD AND SPECIMEN BASE MATERIAL FOR MEASUREMENT例文帳に追加

試料測定方法及び測定用試料基材 - 特許庁

MEASUREMENT SYSTEM OF FILM THICKNESS, AND MEASUREMENT METHOD OF FILM THICKNESS例文帳に追加

膜厚測定装置および膜厚測定方法 - 特許庁

OPTICAL MEASUREMENT INSTRUMENT AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

光学式測定装置及び光学式測定方法 - 特許庁

COMMUNICATION PERFORMANCE MEASUREMENT DEVICE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

通信性能測定装置及びその測定方法 - 特許庁

BIREFRINGENCE MEASUREMENT METHOD AND BIREFRINGENCE MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

複屈折測定方法及び複屈折測定装置 - 特許庁

NEUTRON MEASUREMENT DEVICE AND NEUTRON MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

中性子測定装置及び中性子測定方法 - 特許庁

LASER POWER MEASUREMENT METHOD AND LASER POWER MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加

レーザパワー測定方法およびレーザパワー測定装置 - 特許庁

MTF MEASUREMENT DEVICE AND MTF MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

MTF測定装置およびMTF測定方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND OBJECT WITH MEASUREMENT PATTERN例文帳に追加

計測方法及び計測用パターンを備えた物体 - 特許庁

FREQUENCY MEASUREMENT DEVICE AND FREQUENCY MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

周波数計測装置及び周波数計測方法 - 特許庁

PATTERN MEASUREMENT DEVICE, PATTERN MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

パターン計測装置、パターン計測方法およびプログラム - 特許庁

例文

ROUNDNESS MEASUREMENT DEVICE AND ROUNDNESS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

真円度測定装置および真円度測定方法 - 特許庁




  
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