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Measurement Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 10176件
MODULAR MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT DATA ARITHMETIC METHOD例文帳に追加
モジュール型測定装置と測定データ演算方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR FILM THICKNESS MEASUREMENT例文帳に追加
膜厚測定方法と装置 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR LASER MEASUREMENT例文帳に追加
レーザ測定装置及び方法 - 特許庁
MULTIVALUE SIGNAL TIME MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
多値信号時間計測方法 - 特許庁
MEASUREMENT SYSTEM AND SYNCHRONIZATION METHOD例文帳に追加
測定装置及び同期方法 - 特許庁
ABERRATION MEASUREMENT ERROR CORRECTION METHOD例文帳に追加
収差測定誤差補正方法 - 特許庁
OVERLAPPING ACCURACY MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
重ね合わせ精度測定方法。 - 特許庁
ELONGATION MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
伸び測定システムおよび方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASUREMENT OF LYMPHOCYTE FUNCTION例文帳に追加
リンパ球機能の測定方法 - 特許庁
METHOD FOR SETTING DEFLECTION MEASUREMENT POSITION例文帳に追加
振れ測定位置設定方法 - 特許庁
PROJECTION APPARATUS AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
投影装置及び測距方法。 - 特許庁
MEASUREMENT APPARATUS, MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
測定装置、測定方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD FOR DIOXINS例文帳に追加
ダイオキシン類濃度測定方法 - 特許庁
TOTAL REFLECTION SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
全反射分光計測方法 - 特許庁
STAMPER ECCENTRICITY MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
スタンパー偏心量測定方法 - 特許庁
ATMOSPHERIC MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
大気計測システム及び方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD, AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
補正方法、及び測定装置 - 特許庁
TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND METHOD例文帳に追加
試験測定機器及び方法 - 特許庁
MEASUREMENT METHOD OF RELATIVE VOLATILITY例文帳に追加
相対揮発度の測定方法 - 特許庁
METHOD OF IMBALANCE MEASUREMENT AND INSTRUMENT例文帳に追加
アンバランス計測方法と装置 - 特許庁
MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE SYSTEM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
計測装置、計測方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
FUEL MEASUREMENT DEVICE INSPECTION METHOD例文帳に追加
燃料計量器検査方法 - 特許庁
MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE FABRICATION METHOD例文帳に追加
測定方法、測定装置、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
a method of angular measurement, called circular measure 例文帳に追加
弧度で角度を測る方法 - EDR日英対訳辞書
ULTRASONIC MEASUREMENT METHOD FOR STEEL MATERIAL例文帳に追加
鋼材の超音波計測法 - 特許庁
TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD例文帳に追加
温度計測装置及び方法 - 特許庁
TESTING PIECE FOR IMMUNOLOGICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
免疫測定法用試験片 - 特許庁
MEASUREMENT INFORMATION TRANSMITTER/RECEIVER, MEASUREMENT SYSTEM, MEASUREMENT METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加
測定情報送受信装置、測定システム、測定方法、および測定器 - 特許庁
MEASUREMENT MANAGEMENT PROGRAM, MEASUREMENT MANAGEMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD, AND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
測定管理プログラム、測定管理装置、測定方法および通信システム - 特許庁
ACTIVITY MEASUREMENT PROGRAM, ACTIVITY MEASUREMENT METHOD, AND ACTIVITY MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
活性度測定プログラム、活性度測定方法、および活性度測定装置 - 特許庁
CURRENT MEASUREMENT SYSTEM, CURRENT MEASUREMENT METHOD, AND CURRENT MEASUREMENT PROGRAM例文帳に追加
電流測定装置、電流測定方法および電流測定プログラム - 特許庁
SERVICE TIME MEASUREMENT DEVICE, SERVICE TIME MEASUREMENT METHOD AND SERVICE TIME MEASUREMENT PROGRAM例文帳に追加
サービスタイム計測装置、サービスタイム計測方法、サービスタイム計測プログラム - 特許庁
FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, FILM THICKNESS MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加
膜厚測定方法、膜厚測定用プログラム、及び膜厚測定装置 - 特許庁
OXIDATION-REDUCTION CURRENT MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT DEVICE THEREFOR例文帳に追加
酸化還元電流測定方法及び測定装置 - 特許庁
GAP DIMENSION MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT DEVICE AND DIE HEAD例文帳に追加
ギャップ寸法測定方法、測定装置およびダイヘッド - 特許庁
DISPLACEMENT AND DISTORTION DISTRIBUTION MEASUREMENT OPTICAL SYSTEM AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
変位・ひずみ分布計測光学系と計測手法 - 特許庁
SIGHT LINE MEASUREMENT DEVICE, SIGHT LINE MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
視線計測装置、視線計測方法及びプログラム - 特許庁
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