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「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(109ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Measuring methodの意味・解説 > Measuring methodに関連した英語例文

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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28057



例文

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RESISTANCE OF THERMAL HEAD例文帳に追加

サーマルヘッドの抵抗値測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING UNDERGROUND CONTAMINANT例文帳に追加

地中汚染物質の測定方法及び装置 - 特許庁

RADIATION MEASURING DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

放射線測定装置及びその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MEASURING ITS CHARACTERISTIC例文帳に追加

半導体装置及びその特性測定方法 - 特許庁

例文

HEAT TREATMENT TEMPERATURE MEASURING METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板の熱処理温度測定方法 - 特許庁


例文

HEIGHT MEASURING METHOD FOR MOUNTING POSITION OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品実装位置の高さ測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CONVERGENCE OF COLOR CATHODE RAY TUBE例文帳に追加

カラー陰極線管のコンバーゼンス測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND DEVICE FOR GAS LEAK OF VESSEL例文帳に追加

容器のガス漏れの計測方法および装置 - 特許庁

ARTICLE THICKNESS MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

物品の厚み測定方法、及び、測定装置 - 特許庁

例文

RADIATION MEASURING APPARATUS AND NOISE ELIMINATION METHOD例文帳に追加

放射線測定装置及びノイズ除去方法 - 特許庁

例文

MEASURING METHOD OF ELECTRIC CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの電気特性の測定方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF MEASURING ULTRAVIOLET RAYS PREVENTION EFFECT例文帳に追加

紫外線防止効果計測方法及びシステム - 特許庁

AXLE WEIGHT MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

車軸重量測定方法およびその装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE AND DYNAMIC VISCOSITY OF LIQUID例文帳に追加

液体の温度および動粘度測定方法 - 特許庁

SHAPE MEASURING APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

形状測定装置及び方法、並びにプログラム - 特許庁

TEST SOLUTION MEASURING APPARATUS AND SENSITIVITY CALIBRATION METHOD例文帳に追加

被験液測定装置及び感度較正方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SURFACE POTENTIAL DISTRIBUTION例文帳に追加

表面電位分布の測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING MOTION ACCURACY AND TRAVELING SPEED例文帳に追加

運動精度及び移動速度の測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SURFACE STRAIN例文帳に追加

表面歪の測定装置及び測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD OF MEASURING PLATE WIDTH例文帳に追加

板幅測定装置および板幅測定方法 - 特許庁

PARTICLE NUMBER MEASURING SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

粒子数計測システム及びその制御方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE FOR ASH ADHESION AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

灰付着力計測装置及び計測方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND DEVICE OF SCREW PROPERTY例文帳に追加

ねじ特性の測定方法および測定装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING FLUID例文帳に追加

流体計測装置及び流体計測方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING FLUID例文帳に追加

流体計測装置および流体計測方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING INERTIA MOMENT例文帳に追加

慣性モーメントを測定する方法とその装置 - 特許庁

VACUUM EQUIPMENT AND METHOD FOR MEASURING AND CONTROLLING TEMPERATURE例文帳に追加

真空装置、温度計測及び制御方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR GAS HYDRATE CONCENTRATION AND MEASURING DEVICE USED FOR THE SAME, AND CONTROL METHOD FOR GAS HYDRATE GENERATION DEVICE USING MEASURING METHOD AND CONTROL DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

ガスハイドレート濃度の測定方法及び測定装置と、その測定方法を用いたガスハイドレート生成装置の制御方法及び制御装置 - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT AND METHOD OF DETERMINING POWER STATISTICS例文帳に追加

測定機器及びパワー統計を求める方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF FREE ACID IN NONAQUEOUS ELECTROLYTE LIQUID例文帳に追加

非水電解液中の遊離酸測定方法 - 特許庁

MINUTE HOLE ANGLE MEASURING METHOD AND ITS INSTRUMENT例文帳に追加

微細孔角度計測方法およびその装置 - 特許庁

SIMPLE METHOD FOR MEASURING ANALYSIS SUBSTANCE, REACTION TUBE, AND KIT FOR SIMPLE METHOD FOR MEASURING ANALYSIS SUBSTANCE例文帳に追加

分析物質の簡易測定方法、反応管および分析物質の簡易測定のためのキット - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING ACCURACY OF ALIGNER例文帳に追加

アライナーの精度測定装置およびその方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR MEASURING IMPURITY DISTRIBUTION OF SEMICONDUCTOR AND MEASURING METHOD OF IMPURITY DISTRIBUTION例文帳に追加

半導体の不純物分布測定用試料の製造方法および不純物分布測定方法 - 特許庁

PROFILE MEASURING METHOD OF REFRACTORY IN COKE OVEN, AND WEAR AMOUNT MEASURING METHOD OF REFRACTORY例文帳に追加

コークス炉における耐火物のプロファイル測定方法及び前記耐火物の損耗量測定方法 - 特許庁

GAS MEASURING DEVICE AND SELF-DIAGNOSIS METHOD THEREFOR例文帳に追加

気体測定装置及びその自己診断方法 - 特許庁

ALIGNMENT MEASURING METHOD OF SEMICONDUCTOR MANUFACTURING STEP例文帳に追加

半導体製造工程のアライメント測定方法 - 特許庁

MEASURING AND INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR RAILROAD RAIL例文帳に追加

鉄道レールの測定検査方法とその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ANTENNA RADIATION DIRECTIVITY例文帳に追加

アンテナ放射指向性測定方法及び装置 - 特許庁

MULTILAYER THIN-FILM ANALYSIS METHOD AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加

多層薄膜分析方法および測定装置 - 特許庁

SCALE ELASTICITY RETAINING METHOD AND POSITION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

スケール弾性保持方法及び位置測定装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THICKNESS OF FILM例文帳に追加

膜厚測定方法および膜厚測定装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THICKNESS OF FILM例文帳に追加

膜厚測定方法及び膜厚測定装置 - 特許庁

IMAGE MEASURING DEVICE AND DRIVE CONTROLLING METHOD例文帳に追加

画像測定装置及びその駆動制御方法 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC WAVE MEASURING INSTRUMENT AND METHOD例文帳に追加

電磁波測定装置及び電磁波測定方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

表面形状計測方法およびその装置 - 特許庁

ETCHING RATE MEASURING DEVICE AND METHOD OF MEASUREMENT THEREFOR例文帳に追加

エッチング速度測定装置および測定方法 - 特許庁

CURVED MIRROR AND MEASURING METHOD FOR SURFACE PROFILE例文帳に追加

曲面ミラー及び面形状の測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING PARKING SITUATION例文帳に追加

駐車状況測定方法およびその装置 - 特許庁

例文

PERFORMANCE INFORMATION MEASURING METHOD OF EXPOSING DEVICE AND PERFORMANCE INFORMATION MEASURING APPARATUS, AND EXPOSING METHOD例文帳に追加

露光装置の性能情報計測方法及び性能情報計測装置、並びに露光方法 - 特許庁




  
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