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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28065件
FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加
膜厚測定方法および膜厚測定装置 - 特許庁
MEASURING CAP AND METHOD FOR MANUFACTURING MEASURING CAP例文帳に追加
計量キャップ及び計量キャップの製造方法 - 特許庁
PROFILE MEASURING INSTRUMENT AND PROFILE MEASURING METHOD例文帳に追加
プロファイル測定装置とそのプロファイル測定方法 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL GEOMETRY MEASURING SYSTEM AND MEASURING METHOD例文帳に追加
三次元形状計測システム及び計測方法 - 特許庁
TRANSMITTANCE MEASURING DEVICE AND TRANSMITTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加
透過率測定装置、及び透過率測定方法 - 特許庁
TRITIUM WATER CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
トリチウム水濃度測定装置及び測定方法 - 特許庁
ELECTROMAGNETIC WAVE MEASURING APPARATUS AND ELECTROMAGNETIC WAVE MEASURING METHOD例文帳に追加
電磁波測定装置及び電磁波測定方法 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING DEVICE OF GAS AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
ガスの温度測定装置及びその測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR CARBOXYLIC ACID, AND MEASURING KIT THEREFOR例文帳に追加
カルボン酸の測定方法およびその測定キット - 特許庁
MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR GAS BARRIER PERFORMANCE例文帳に追加
ガスバリア性能の測定方法及び測定装置 - 特許庁
PLATE THICKNESS MEASURING METHOD AND PLATE THICKNESS MEASURING APPARATUS例文帳に追加
板厚測定方法および板厚測定装置 - 特許庁
MICROSCOPIC PHOTOLUMINESCENCE MEASURING INSTRUMENT AND MEASURING METHOD例文帳に追加
顕微フォトルミネッセンス測定装置及び測定方法 - 特許庁
BODY COMPOSITION MEASURING DEVICE AND BODY COMPOSITION MEASURING METHOD例文帳に追加
体組成測定装置、体組成測定方法 - 特許庁
MICROSTRUCTURE MEASURING METHOD AND ITS MEASURING APPARATUS例文帳に追加
微細構造計測方法及びその計測装置 - 特許庁
LIPOPOLYSACCHARIDE MEASURING METHOD AND LIPOPOLYSACCHARIDE MEASURING KIT例文帳に追加
リポ多糖測定方法およびリポ多糖測定キット - 特許庁
MEMBRANE THICKNESS MEASURING METHOD AND MEMBRANE THICKNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加
膜厚測定方法および膜厚測定装置 - 特許庁
WETNESS MEASURING METHOD AND WETNESS MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
湿り度計測方法および湿り度計測装置 - 特許庁
PLATE THICKNESS MEASURING METHOD AND PLATE THICKNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加
板厚の測定方法及び板厚検査装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR COIL PLATE THICKNESS AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加
コイルの板厚測定方法および測定装置 - 特許庁
BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD例文帳に追加
血圧測定装置および血圧測定方法 - 特許庁
MTF MEASURING METHOD AND MTF MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
MTF測定方法及びMTF測定装置 - 特許庁
REFRACTION INDEX DISTRIBUTION MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
屈折率分布測定装置及び測定方法 - 特許庁
MONOPULSE ANGLE MEASURING DEVICE AND METHOD OF MEASURING MONOPULSE ANGLE例文帳に追加
モノパルス測角装置およびモノパルス測角方法 - 特許庁
MICROARRAY MEASURING INSTRUMENT AND MICROARRAY MEASURING METHOD例文帳に追加
マイクロアレイ測定装置及びマイクロアレイ測定方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC MEASURING INSTRUMENT AND CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加
特性測定用器具および特性測定方法 - 特許庁
INTERFERENCE MEASURING METHOD AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加
干渉計測方法および干渉計測装置 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD例文帳に追加
三次元形状計測装置及び計測方法 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING FILM THICKNESS AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加
膜厚測定装置及び膜厚測定方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加
膜厚測定装置および膜厚測定方法 - 特許庁
LEAKAGE CURRENT MEASURING DEVICE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
漏れ電流測定装置及びその測定方法 - 特許庁
WALL THICKNESS MEASURING METHOD AND WALL THICKNESS MEASURING PROGRAM例文帳に追加
肉厚測定方法および肉厚測定プログラム - 特許庁
GAS CONCENTRATION MEASURING SYSTEM AND GAS CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
ガス濃度測定装置とガス濃度測定方法 - 特許庁
BIT ERROR RATE MEASURING METHOD AND ITS MEASURING APPARATUS例文帳に追加
ビットエラーレート測定方法及びその測定装置 - 特許庁
SOUND FIELD MEASURING APPARATUS AND SOUND FIELD MEASURING METHOD例文帳に追加
音場測定装置及び音場測定方法 - 特許庁
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