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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28065件
MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, ADJUSTMENT SYSTEM, AND ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加
測定装置及び測定方法、調整システム及び調整方法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエハの計測方法 - 特許庁
SUPERPOSITION PRECISION MEASURING METHOD例文帳に追加
重ね合わせ精度測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF LIQUID FILM例文帳に追加
液膜の厚さ測定方法 - 特許庁
OPTICAL FIBER CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加
光ファイバ特性測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE, ALIGNER, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
計測方法及び装置、露光装置、並びに、デバイス製造方法 - 特許庁
ASPHERICAL SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加
非球面形状計測方法 - 特許庁
PHOTOMASK, FLARE MEASURING MECHANISM, METHOD FOR MEASURING FLARE AND METHOD FOR EXPOSURE例文帳に追加
フォトマスク、フレア測定機構、フレア測定方法、及び、露光方法 - 特許庁
LASER MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加
レーザー計測方法及び装置 - 特許庁
PULSE RATE MEASURING METHOD AND BLOOD OXYGEN SATURATION MEASURING METHOD例文帳に追加
脈拍数測定方法及び血中酸素飽和度測定方法 - 特許庁
STERIC STRAIN MEASURING METHOD OF EGG例文帳に追加
卵の立体歪み計測法 - 特許庁
DISTORTION MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加
歪み測定方法及び装置 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
変位測定方法及び装置 - 特許庁
PRESERVATION METHOD, MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF FILE, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
ファイルの保存方法、計測装置、計測方法およびプログラム - 特許庁
METHOD FOR MEASURING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップの測定方法 - 特許庁
STIRRING METHOD, CELL, MEASURING APPARATUS USING THE SAME, AND MEASURING METHOD例文帳に追加
攪拌方法、セルおよびこれを用いた測定装置、測定方法 - 特許庁
INSIDE SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS USING THE METHOD例文帳に追加
内面形状の測定方法とこの方法による測定装置 - 特許庁
LENS MEASURING APPARATUS, METHOD FOR MEASURING LENS, AND METHOD FOR MANUFACTURING LENS例文帳に追加
レンズ測定装置、レンズ測定方法及びレンズ製造方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF HAIR DAMAGE DEGREE例文帳に追加
ヘア損傷度の測定方法 - 特許庁
LASER DISTANCE-MEASURING EQUIPMENT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
レーザー測距装置及び方法 - 特許庁
ENERGY CONSUMPTION MEASURING METHOD例文帳に追加
エネルギー消費量測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING SKEW OF COMPARATOR例文帳に追加
コンパレータのスキュー測定方法 - 特許庁
NONCONTACT SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加
非接触形状測定方法 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
変位測定システム及び方法 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加
変位測定方法及びシステム - 特許庁
ELECTROMAGNETIC WAVE MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加
電磁波計測方法と装置 - 特許庁
MEASURING METHOD, MEASURING APPARATUS, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
測定方法、測定装置、リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
温度計測方法及び装置 - 特許庁
CONSTITUENT CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD AND CONSTITUENT CONCENTRATION MEASURING METHOD AND CONSTITUENT CONCENTRATION MEASURING APPARATUS例文帳に追加
成分濃度測定方法及び成分濃度測定装置 - 特許庁
MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD, EXPOSURE EQUIPMENT, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
計測装置、計測方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
変位計測方法及び装置 - 特許庁
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