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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28065件
INTERMODULATION DISTORTION MEASURING METHOD例文帳に追加
相互変調歪測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING THROTTLE VALVE ANGLE例文帳に追加
スロットル弁角度測定方法 - 特許庁
SENSOR, FRICTIONAL FORCE MEASURING METHOD, PRESSURE MEASURING METHOD, AND FRICTIONAL FORCE/PRESSURE SIMULTANEOUS MEASURING METHOD例文帳に追加
センサ、摩擦力計測方法、圧力計測方法、及び摩擦力・圧力同時計測方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHTHALIC ACID ESTER例文帳に追加
フタル酸エステル類の測定法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR CONCENTRATION OF ANIONS例文帳に追加
陰イオン濃度の測定方法 - 特許庁
a method of measuring nuclear magnetic resonance 例文帳に追加
核磁気共鳴の測定法 - EDR日英対訳辞書
LAYER THICKNESS MEASURING METHOD, SYSTEM, AND PROGRAM OF LATER THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加
層厚測定方法、システム及び層厚測定方法のプログラム - 特許庁
CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
濃度測定装置及び方法 - 特許庁
ATOMIZATION MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加
噴霧計測方法及び装置 - 特許庁
OUTER DIAMETER MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
外径測定方法及び装置 - 特許庁
AZIMUTH MEASURING METHOD, AND AZIMUTH MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
方位角計測方法および方位角計測装置 - 特許庁
MAGNETIC CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
磁気特性の測定装置及びその測定方法 - 特許庁
TRACK INSPECTING AND MEASURING METHOD AND TRACK INSPECTING AND MEASURING KIT例文帳に追加
軌道検測方法および軌道検測用キット - 特許庁
MEASURING DEVICE, CONTROL CIRCUIT, PROGRAM, AND MEASURING METHOD例文帳に追加
測定装置、制御回路、プログラム及び測定方法 - 特許庁
MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD, TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加
測定装置、測定方法、試験装置およびプログラム - 特許庁
COLOR TONE MEASURING METHOD AND COLOR TONE MEASURING DEVICE例文帳に追加
色調測定方法および色調測定装置 - 特許庁
FLOW VELOCITY MEASURING DEVICE AND FLOW VELOCITY MEASURING METHOD例文帳に追加
流速測定装置および流速測定方法 - 特許庁
GAS CONCENTRATION MEASURING APPARATUS AND GAS CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
ガス濃度測定装置及びガス濃度測定方法 - 特許庁
GAS CONCENTRATION MEASURING METHOD AND GAS CONCENTRATION MEASURING APPARATUS例文帳に追加
ガス濃度測定方法及びガス濃度測定装置 - 特許庁
MEASURING METHOD OF ELASTIC MODULUS AND MEASURING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
弾性率の測定方法およびその測定装置 - 特許庁
OPTICAL SAMPLING WAVEFORM MEASURING INSTRUMENT AND MEASURING METHOD例文帳に追加
光サンプリング波形測定装置及び測定方法 - 特許庁
TERRESTRIAL MAGNETISM AZIMUTH MEASURING DEVICE AND AZIMUTH MEASURING METHOD例文帳に追加
地磁気方位測定装置及び方位測定方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS, SURFACE TEMPERATURE MEASURING APPARATUS, FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND SURFACE TEMPERATURE MEASURING METHOD例文帳に追加
膜厚測定装置、表面温度測定装置、膜厚測定方法および表面温度測定方法 - 特許庁
GLASS LAYER THICKNESS MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加
ガラス層の層厚測定方法および測定装置 - 特許庁
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