「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTROMAGNETIC CHARACTERISTIC MEASURING TOOL AND MEASURING METHOD例文帳に追加

電磁気特性測定治具及び電磁気特性の測定方法 - 特許庁

BLOOD PRESSURE MEASURING APPARATUS AND CONTROL METHOD FOR BLOOD PRESSURE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

血圧測定装置及び血圧測定装置制御方法 - 特許庁

OXIDE FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND OXIDE FILM THICKNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

酸化膜厚測定方法及び酸化膜厚測定装置 - 特許庁

REFRACTORY THICKNESS MEASURING METHOD AND REFRACTORY THICKNESS MEASURING APPARATUS例文帳に追加

耐火物厚み測定方法及び耐火物厚み測定装置 - 特許庁

FUEL CONCENTRATION MEASURING APPARATUS AND FUEL CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

燃料濃度測定装置および燃料濃度測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING OPTICAL HETERODYNE INTERFERENCE, AND MEASURING INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加

光ヘテロダイン干渉測定方法およびその測定装置 - 特許庁

JUMPING ACTION MEASURING DEVICE AND JUMPING ACTION MEASURING METHOD例文帳に追加

跳躍動作測定装置及び跳躍動作測定方法 - 特許庁

ELECTRIC FIELD DISTRIBUTION MEASURING METHOD AND ELECTRIC FIELD DISTRIBUTION MEASURING DEVICE例文帳に追加

電界分布測定方法及び電界分布測定装置 - 特許庁

OPTICAL PHASE MEASURING APPARATUS, OPTICAL PHASE MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

光位相測定装置、光位相測定方法およびプログラム - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT AND MEASURING METHOD FOR WEAR OF PHOTOCONDUCTOR例文帳に追加

光伝導体の摩耗の測定装置および測定方法 - 特許庁

OPTICAL ANISOTROPIC PARAMETER MEASURING METHOD AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

光学的異方性パラメータ測定方法及び測定装置 - 特許庁

INSPECTION/MEASURING METHOD AND INSPECTION/MEASURING DEVICE BY ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線による検査・計測方法および検査・計測装置 - 特許庁

OSCILLATING-TYPE MEASURING DEVICE AND FLUID VISCOSITY MEASURING METHOD例文帳に追加

振動式測定装置および流体の粘度の測定方法 - 特許庁

SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加

分光特性測定装置及び分光特性測定方法 - 特許庁

ELECTRIC FIELD STRENGTH MEASURING SYSTEM AND ELECTRIC FIELD STRENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加

電界強度測定システム及び電界強度測定方法 - 特許庁

SHAPE MEASURING DEVICE, SHAPE MEASURING METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

形状測定装置、形状測定方法、及びそのプログラム - 特許庁

INNER SURFACE IRREGULARITY MEASURING DEVICE OF TREAD SEGMENT AND MEASURING METHOD例文帳に追加

トレッドセグメントの内面凹凸測定装置及び測定方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD USING AGGLUTINATION REACTION例文帳に追加

凝集反応を利用した測定装置および測定方法 - 特許庁

LIGHT MEASURING DEVICE, LIGHT MEASUREMENT METHOD, AND LIGHT MEASURING PROGRAM例文帳に追加

光測定装置、光測定方法、及び光測定プログラム - 特許庁

NOISE MEASURING APPARATUS AND NOISE MEASURING METHOD FOR ELECTRIC APPARATUS例文帳に追加

騒音測定装置及び電気機器の騒音測定方法 - 特許庁

TIRE FOR MEASURING TIRE INTERNAL TEMPERATURE AND METHOD FOR MEASURING THE SAME例文帳に追加

タイヤ内部温度測定用タイヤおよびその測定方法 - 特許庁

BUBBLE VOLUME MEASURING METHOD AND BUBBLE VOLUME MEASURING DEVICE例文帳に追加

気泡体積計測方法および気泡体積計測装置 - 特許庁

WIDE AREA DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND WIDE AREA DISPLACEMENT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

広域変位計測方法および広域変位計測装置 - 特許庁

DROPLET STATE MEASURING DEVICE AND STATE MEASURING METHOD例文帳に追加

小滴の状態計測装置、及び状態計測方法 - 特許庁

SECTIONAL SHAPE MEASURING METHOD AND SECTIONAL SHAPE MEASURING DEVICE例文帳に追加

断面形状計測方法及び断面形状計測装置 - 特許庁

TOOL KNIFE EDGE MEASURING DEVICE AND TOOL KNIFE EDGE MEASURING METHOD例文帳に追加

工具刃先測定装置および工具刃先測定方法 - 特許庁

WIND SPEED VECTOR MEASURING INSTRUMENT, AND WIND SPEED VECTOR MEASURING METHOD例文帳に追加

風速ベクトル計測装置及び風速ベクトル計測方法 - 特許庁

COMMUNICATION STATE MEASURING APPARATUS AND COMMUNICATION STATE MEASURING METHOD例文帳に追加

通信状態測定装置及び通信状態測定方法 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING LIGHT EMITTED FROM OPTICAL PICKUP, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

光ピックアップの出射光測定装置、及び測定方法 - 特許庁

ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE OF SEMICONDUCTOR, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

半導体の電気特性測定装置、および、測定方法 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING VISCOELASTICITY AND METHOD FOR MEASURING VISCOELASTIC MATERIAL例文帳に追加

粘弾性測定装置および粘弾性材の測定方法 - 特許庁

ELECTROLYTIC CURRENT MEASURING INSTRUMENT AND ELECTROLYTIC CURRENT MEASURING METHOD例文帳に追加

電解電流測定装置及び電解電流測定方法 - 特許庁

DEW POINT MEASURING METHOD AND DEW POINT MEASURING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

露点計測方法及びそれを用いた露点計測装置 - 特許庁

DIELECTRIC CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE AND DIELECTRIC CHARACTERISTICS MEASURING METHOD例文帳に追加

誘電特性測定装置および誘電特性測定方法 - 特許庁

REAGENT FOR MEASURING AMYLASE ACTIVITY, METHOD FOR MEASURING AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

アミラーゼ活性測定用試薬、測定方法、および装置 - 特許庁

WAVELENGTH MEASURING INSTRUMENT, LIGHT RECEIVING UNIT, AND WAVELENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加

波長測定装置、受光ユニット及び波長測定方法 - 特許庁

LASER INTERFERENCE LENGTH MEASURING APPARATUS AND LASER INTERFERENCE LENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加

レーザ干渉測長装置及びレーザ干渉測長方法 - 特許庁

HEAT-RESISTANT BACTERIUM NUMBER MEASURING METHOD AND BACTERIUM NUMBER MEASURING APPARATUS例文帳に追加

耐熱性菌数測定方法および菌数測定装置 - 特許庁

RIM SLIPPAGE MEASURING DEVICE AND RIM SLIPPAGE MEASURING METHOD例文帳に追加

リムずれ量測定装置およびリムずれ量測定方法 - 特許庁

JUNCTION TEMPERATURE MEASURING CIRCUIT OF IC AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

ＩＣのジャンクション温度測定回路、及びその測定方法 - 特許庁

FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT FOR MULTILAYER FILM例文帳に追加

多層膜の膜厚測定方法及び膜厚測定装置 - 特許庁

HARNESS LENGTH MEASURING IMPLEMENT AND LENGTH MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ハーネス寸法測定具とそれを用いた寸法測定方法 - 特許庁

REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING PROGRAM, AND REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加

反射特性測定プログラム及び反射特性測定方法 - 特許庁

ENVIRONMENT MEASURING ELEMENT AND ENVIRONMENT MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

環境測定素子及びこれを用いた環境測定方法 - 特許庁

PROTRUSION HEIGHT MEASURING METHOD, PROTRUSION HEIGHT MEASURING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

突起の高さ測定方法、突起の高さ測定装置、プログラム - 特許庁