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automated metrologyの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.例文帳に追加
チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ Ｎｏ．５２で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、１．２０〜３．２０以下である。 - 特許庁
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