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defect experimentの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
To provide a verification device which extracts only an original defect from layout data of a semiconductor integrated circuit device including an intentionally introduced experiment unit.例文帳に追加
意図的に導入された実験箇所を含む半導体集積回路装置のレイアウトデータから本来の欠陥のみを抽出する検証装置を提供すること。 - 特許庁
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