「electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD OF PREVENTING CHARGE UP OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のチャージアップ防止方法および電子顕微鏡 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

電子顕微鏡システム用対物レンズおよび電子顕微鏡システム - 特許庁

ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析透過型電子顕微鏡 - 特許庁

TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料装置 - 特許庁

SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査Ｘ線電子顕微鏡 - 特許庁

MESH FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用メッシュ - 特許庁

SAMPLE STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料ステージ - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用対物レンズ - 特許庁

ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線描画装置および電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM DISPERSING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線分光装置および電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線干渉装置および電子顕微鏡 - 特許庁

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダー - 特許庁

REFLECTION IMAGING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用撮像装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁

ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギフィルタ及び電子顕微鏡 - 特許庁

DOWNSIZED SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

小型の走査型電子顕微鏡 - 特許庁

FOCUSING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡 - 特許庁

DRAW GEAR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用の引張装置 - 特許庁

METHOD FOR REGULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

LOW-ENERGY REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低エネルギー反射電子顕微鏡 - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND INSPECTION DEVICE USING MIRROR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡およびミラー電子顕微鏡を用いた検査装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ALIGNMENT METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型干渉電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料ホルダ及び電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

STAGE, AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

ステージ及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND ENERGY FILTER例文帳に追加

電子顕微鏡及びエネルギーフィルタ - 特許庁

ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギーフィルタ及び電子顕微鏡 - 特許庁

DIRECT IMAGING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

直接写像型電子顕微鏡 - 特許庁

MICRO-MANIPULATOR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用マイクロマニピュレータ - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡，電子顕微鏡用画像再構成システム、および電子顕微鏡用画像再構成方法 - 特許庁

IMAGE PICK-UP DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用撮影装置 - 特許庁

ELECTRODE RING AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電極リング及び電子顕微鏡 - 特許庁

FIELD EMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放出型電子顕微鏡 - 特許庁

SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

スピン偏極走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

PRETREATMENT DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用前処理装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料ホルダー及び電子顕微鏡 - 特許庁