「electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE例文帳に追加

試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡 - 特許庁

The particle diameter ratio would be measured by the electron microscope pictures. 例文帳に追加

粒径比の測定には電子顕微鏡写真を用いる。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

高分解能・化学結合電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE例文帳に追加

外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁

ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁

ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加

光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁

DIAGNOSTIC DEVICE OF RECIPE USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡に用いられるレシピの診断装置 - 特許庁

VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置 - 特許庁

To improve total throughput of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のトータルスループットを向上させる。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁

WIEN FILTER TYPE ENERGY ANALYZER AND DISCHARGE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ及び放出電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。 - 特許庁

DETECTOR SYSTEM FOR USE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で用いられる検出器システム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁

FIELD EMISSION ELECTRON SOURCE AND MICROSCOPE USING THIS例文帳に追加

電界放射電子源およびこれを用いた顕微鏡 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料及びその作製方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法 - 特許庁

DEVICE FOR INDICATING VACUUM PRESSURE OF ELECTRON MICROSCOPE ACCELERATING TUBE例文帳に追加

電子顕微鏡加速管の真空圧力表示装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

PLASMA GENERATOR AND LOW-VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

プラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON PAIR MEASURING APPARATUS AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

電子対測定装置および走査形トンネル顕微鏡 - 特許庁