electron microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1821件
ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
分析電子顕微鏡 - 特許庁
HOLOGRAPHIC ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
ホログラフィ電子顕微鏡 - 特許庁
PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相差電子顕微鏡 - 特許庁
TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡 - 特許庁
OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の運転方法及び電子顕微鏡 - 特許庁
TEST PIECE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料ホルダおよび電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE OPERATING SYSTEM例文帳に追加
電子顕微鏡操作システム - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON OPTICAL SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子光学システム及び電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON GENERATION METHOD例文帳に追加
電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法 - 特許庁
ULTRA HIGH-PRESSURE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
超高圧電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE CONTROLLER, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡システムおよび電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁
CRYOSTAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用クライオステージ - 特許庁
SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査干渉電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND OBSERVATION METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡装置および電子顕微鏡観察方法 - 特許庁
TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁
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