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integrated methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8526件
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF LAYING- OUT THEREFOR例文帳に追加
半導体集積回路およびレイアウト方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の検査方法および検査装置 - 特許庁
MASS PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の量産方法 - 特許庁
RESIN-INTEGRATED MOLDING AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加
樹脂一体成形体及びその製造方法 - 特許庁
SENSING DATA INTEGRATED CONTROL SYSTEM, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
センシングデータ統合管理システム及びその方法 - 特許庁
ELEMENT, INTEGRATED CIRCUIT AND THEIR MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
素子、集積回路及びそれらの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR VERIFYING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の検証方法 - 特許庁
IMAGING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING METHOD, AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
撮像装置、信号処理方法、集積回路 - 特許庁
INTEGRATED OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
集積光学装置及びその製造方法 - 特許庁
INTEGRATED SYSTEM, RECONSTRUCTION METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加
組込みシステム、その再構成方法及びプログラム - 特許庁
BURN-IN METHOD FOR INTEGRATED SEMICONDUCTOR LASER DEVICE例文帳に追加
集積型半導体レーザ装置のバーイン方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND INSPECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体集積装置およびその検査方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR INTEGRATED BUSINESS INFORMATION例文帳に追加
統合されたビジネス情報システムおよび方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND RELIEVING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路装置と救済方法 - 特許庁
SECURE DEVICE, INTEGRATED CIRCUIT, AND ENCRYPTION METHOD例文帳に追加
セキュアデバイス、集積回路および暗号化方法 - 特許庁
ANTENNA-INTEGRATED MODULE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
アンテナ一体型モジュールおよびその製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND POWER SUPPLY CONTROL METHOD例文帳に追加
半導体集積回路と電源制御方法 - 特許庁
INTEGRATED SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
集積半導体装置及びその製造方法 - 特許庁
CIRCUIT FOR INTEGRATED LEVEL SHIFTING LATCH AND METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
集積レベル・シフティング・ラッチの回路と方法 - 特許庁
INTEGRATED CAPACITOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
集積キャパシタの製造方法、集積キャパシタ - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR OPTICAL INTEGRATED ELEMENT例文帳に追加
半導体光集積素子を作製する方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROTECTIVE PLATE-INTEGRATED DISPLAY PANEL例文帳に追加
保護板一体型表示パネルの製造方法 - 特許庁
INTEGRATED OPTICAL MODULE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
集積化光モジュールおよびその製造方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR OPTICAL INTEGRATED DEVICE例文帳に追加
半導体光集積素子を作製する方法 - 特許庁
INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の検査装置及び検査方法 - 特許庁
INTEGRATED SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
集積半導体メモリデバイス及び製造方法 - 特許庁
INTEGRATED TRANSISTOR ELEMENT, AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加
集積化トランジスタ素子及びその形成方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING INTEGRATED CACHE PORT例文帳に追加
統合キャッシュポートの制御方法および装置 - 特許庁
OPTOELECTRONIC INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
オプトエレクトロニック集積回路とその製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND DEVELOPMENT METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路及びその開発方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND ACTUATING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路およびその起動方法 - 特許庁
TESTING CIRCUIT, TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テスト回路、テスト方法、半導体集積回路 - 特許庁
BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁
TFT INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
TFT集積回路及びその製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR DESIGNING CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路と回路設計方法 - 特許庁
GATE ARRAY INTEGRATED CIRCUIT AND ITS LAYOUT METHOD例文帳に追加
ゲートアレイ集積回路およびそのレイアウト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DATA EVACUATING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びデータ退避方法 - 特許庁
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