| 意味 | 例文 |
measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
WIDE AREA DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND WIDE AREA DISPLACEMENT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
広域変位計測方法および広域変位計測装置 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT AND MEASURING METHOD FOR WEAR OF PHOTOCONDUCTOR例文帳に追加
光伝導体の摩耗の測定装置および測定方法 - 特許庁
OPTICAL ANISOTROPIC PARAMETER MEASURING METHOD AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
光学的異方性パラメータ測定方法及び測定装置 - 特許庁
INSPECTION/MEASURING METHOD AND INSPECTION/MEASURING DEVICE BY ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線による検査・計測方法および検査・計測装置 - 特許庁
SECTIONAL SHAPE MEASURING METHOD AND SECTIONAL SHAPE MEASURING DEVICE例文帳に追加
断面形状計測方法及び断面形状計測装置 - 特許庁
TOOL KNIFE EDGE MEASURING DEVICE AND TOOL KNIFE EDGE MEASURING METHOD例文帳に追加
工具刃先測定装置および工具刃先測定方法 - 特許庁
WIND SPEED VECTOR MEASURING INSTRUMENT, AND WIND SPEED VECTOR MEASURING METHOD例文帳に追加
風速ベクトル計測装置及び風速ベクトル計測方法 - 特許庁
COMMUNICATION STATE MEASURING APPARATUS AND COMMUNICATION STATE MEASURING METHOD例文帳に追加
通信状態測定装置及び通信状態測定方法 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING LIGHT EMITTED FROM OPTICAL PICKUP, AND MEASURING METHOD例文帳に追加
光ピックアップの出射光測定装置、及び測定方法 - 特許庁
ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE OF SEMICONDUCTOR, AND MEASURING METHOD例文帳に追加
半導体の電気特性測定装置、および、測定方法 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING VISCOELASTICITY AND METHOD FOR MEASURING VISCOELASTIC MATERIAL例文帳に追加
粘弾性測定装置および粘弾性材の測定方法 - 特許庁
OPTICAL PHASE MEASURING APPARATUS, OPTICAL PHASE MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
光位相測定装置、光位相測定方法およびプログラム - 特許庁
SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加
分光特性測定装置及び分光特性測定方法 - 特許庁
ELECTRIC FIELD STRENGTH MEASURING SYSTEM AND ELECTRIC FIELD STRENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加
電界強度測定システム及び電界強度測定方法 - 特許庁
SHAPE MEASURING DEVICE, SHAPE MEASURING METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
形状測定装置、形状測定方法、及びそのプログラム - 特許庁
COLD SPRAY MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
コールドスプレー測定装置およびこれを用いる測定方法 - 特許庁
INNER SURFACE IRREGULARITY MEASURING DEVICE OF TREAD SEGMENT AND MEASURING METHOD例文帳に追加
トレッドセグメントの内面凹凸測定装置及び測定方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD USING AGGLUTINATION REACTION例文帳に追加
凝集反応を利用した測定装置および測定方法 - 特許庁
SOUND ABSORPTION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD AND SOUND ABSORPTION CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS例文帳に追加
吸音特性測定方法および吸音特性測定装置 - 特許庁
CONTACT TYPE SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
接触式表面形状測定装置及び測定方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE OF GRADUALLY RELEASING GAS QUANTITY AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
徐放性ガス量の測定装置およびその測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING RAILROAD CONSTRUCTION LIMIT AND ITS MEASURING DEVICE例文帳に追加
鉄道建築限界測定方法およびその測定装置 - 特許庁
OPERATION INFORMATION MEASURING SYSTEM AND OPERATION INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加
動作情報計測システムおよび動作情報計測方法 - 特許庁
CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE AND CHARACTERISTICS MEASURING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の特性測定装置及び特性測定方法 - 特許庁
MACHINE TOOL SHAPE MEASURING APPARATUS AND MACHINE TOOL SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加
工具形状測定装置、及び工具形状測定方法 - 特許庁
STROKE INFORMATION MEASURING DEVICE AND STROKE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加
ストローク情報測定装置及びストローク情報測定方法 - 特許庁
POSITION-MEASURING APPARATUS, MOBILE TERMINAL AND POSITION-MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
測位装置、移動端末、測位方法および測位プログラム - 特許庁
DISTANCE MEASURING SYSTEM, DISTANCE MEASURING METHOD, AND COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加
距離測定システム、距離測定方法ならびに通信装置 - 特許庁
POSITION MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING ABSOLUTE POSITION例文帳に追加
絶対位置を測定するための位置測定装置と方法 - 特許庁
BENDING CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING BENDING CHARACTERISTIC例文帳に追加
曲げ特性計測装置及び曲げ特性の計測方法 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING ORIENTATION CHARACTERISTIC OF FIBER, AND METHOD FOR MEASURING THE SAME例文帳に追加
繊維配向特性の測定装置とその測定方法 - 特許庁
DIFFERENTIAL PULSE VOLTAMMETRY ELECTRIC CURRENT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加
微分パルスボルタンメトリ電流測定方法および測定装置 - 特許庁
THIN FILM EXFOLIATION STRENGTH MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
薄膜剥離強度測定装置、測定方法およびプログラム - 特許庁
MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF ELECTRIC SIGNAL DERIVED FROM ORGANISM例文帳に追加
生体由来の電気信号測定装置及び測定方法 - 特許庁
SIGNAL STRENGTH MEASURING INSTRUMENT AND SIGNAL STRENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加
信号強度測定装置及び信号強度測定方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE, MOLDING DEVICE, TRANSFERRING DEVICE, AND MEASURING METHOD例文帳に追加
測定装置、成型装置、転写装置および測定方法 - 特許庁
SIGNAL AMPLITUDE MEASURING DEVICE AND SIGNAL AMPLITUDE MEASURING METHOD例文帳に追加
信号振幅測定装置及び信号振幅測定方法 - 特許庁
NONLINEAR EFFECT MEASURING DEVICE AND NONLINEAR EFFECT MEASURING METHOD例文帳に追加
非線形効果測定器および非線形効果測定方法 - 特許庁
HARDNESS MEASURING APPARATUS, HARDNESS MEASURING METHOD AND ENDOSCOPIC SYSTEM例文帳に追加
硬さ測定装置、硬さ測定方法、および内視鏡システム - 特許庁
SECTIONAL SHAPE MEASURING DEVICE AND SECTIONAL SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加
断面形状測定装置及び断面形状測定方法 - 特許庁
TRANSMISSION MEASURING DEVICE, METHOD FOR MEASURING TRANSMITTANCE AND STERILIZING APPARATUS例文帳に追加
透過測定器、透過率測定方法、および消毒装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING ABILITY TO INHIBIT CARCINOMA METASTASIS AND MEASURING INSTRUMENT THEREOF例文帳に追加
癌転移抑制能測定する方法およびその測定器 - 特許庁
HYDRAULIC PRESSURE MEASURING METHOD AND HYDRAULIC PRESSURE MEASURING SYSTEM IN GROUND例文帳に追加
地盤内の水圧測定方法および水圧測定システム - 特許庁
CLASSIFIED PARTICLE MEASURING DEVICE, CLASSIFIED PARTICLE MEASURING METHOD, MICRO MASS MEASURING DEVICE AND MICRO MASS MEASURING METHOD例文帳に追加
分級微粒子計測装置、分級微粒子計測方法、微量質量計測装置および微量質量計測方法 - 特許庁
MUSCULAR HARDNESS MEASURING APPARATUS AND MUSCULAR HARDNESS MEASURING METHOD例文帳に追加
筋肉硬さ測定装置および筋肉硬さ測定方法 - 特許庁
DYNAMO MEASURING METHOD, DYNAMO MEASURING DEVICE, AND TIRE PRESSING DEVICE例文帳に追加
ダイナモ計測方法、ダイナモ計測装置及びタイヤ押付装置 - 特許庁
CONCENTRICITY MEASURING INSTRUMENT AND CONCENTRICITY MEASURING METHOD USING THIS例文帳に追加
同心度測定器及びこれを用いた同心度測定方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|