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measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
PRODUCTION METHOD FOR MEASURING TUBE OF RADIATION例文帳に追加
放射線計測用チューブの製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SURFACE POTENTIAL例文帳に追加
表面電位計測方法及びその装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL INFORMATION, AND METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ROCKING例文帳に追加
三次元情報計測方法及びその装置、揺動計測方法及びその装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD OF MEASURING DYNAMIC FRICTION COEFFICIENT例文帳に追加
動摩擦係数測定装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING DYNAMIC FRICTION COEFFICIENT例文帳に追加
動摩擦係数測定方法および装置 - 特許庁
MAGNETISM-MEASURING METHOD AND MAGNETOMETRIC-SENSOR DRIVE CIRCUIT例文帳に追加
磁気測定方法と磁気センサ駆動回路 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SUBSTRATE CONCENTRATION例文帳に追加
基質濃度の測定方法及びその装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING VISUAL AXIS例文帳に追加
視線計測方法及び視線計測装置 - 特許庁
SLURRY CONCENTRATION MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
スラリー濃度測定方法とその測定装置 - 特許庁
WIPER ATTACK ANGLE MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
ワイパのアタックアングル測定方法及び装置 - 特許庁
ELECTRIC RESISTANCE MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
電気抵抗計測方法及びその装置 - 特許庁
AUTOMATIC SURVEYING MACHINE AND THREE-DIMENSIONAL MEASURING METHOD例文帳に追加
自動測量機と３次元測定方法 - 特許庁
ELECTRONIC MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR CONTROLLING THE SAME例文帳に追加
電子測定機器及びその制御方法 - 特許庁
DISPERSION MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加
分散測定方法及び分散測定装置 - 特許庁
FERRULE OUTER DIAMETER MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
フェルール外径測定装置およびその方法 - 特許庁
SENSOR-MEASURING METHOD AND APPARATUS AND RECORDING MEDIUM HAVING RECORDED PROGRAM FOR THE SENSOR- MEASURING METHOD例文帳に追加
センサ測定方法及び装置並びにセンサ測定方法のプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ASPHERICAL SURFACE OBJECT例文帳に追加
非球面体測定方法および装置 - 特許庁
SMALL HOLE DIAMETER AUTOMATIC MEASURING INSTRUMENT, SMALL HOLE DIAMETER MEASURING METHOD, AND SHOWER PLATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
小孔孔径自動計測装置、小孔孔径計測方法及びシャワープレートの製造方法 - 特許庁
COMPONENT THICKNESS MEASURING DEVICE, COMPONENT MOUNTING MACHINE, COMPONENT THICKNESS MEASURING METHOD, AND COMPONENT MOUNTING METHOD例文帳に追加
部品厚さ計測装置、部品実装機、部品厚さ計測方法及び部品実装方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING RESISTIVITY OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハの抵抗率測定方法 - 特許庁
PHOTOELECTRON SPECTROPHOTOMETRIC DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
光電子分光装置および測定方法 - 特許庁
FREQUENCY MEASURING METHOD FOR PIEZOELECTRIC VIBRATION ELEMENT例文帳に追加
圧電振動素子の周波数測定方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING METHOD, FILM THICKNESS MEASURING DEVICE, DEPOSITION DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
膜厚測定方法、膜厚測定装置、成膜装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
LASER TRAP APPLICATION MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
レーザトラップ応用計測装置および方法 - 特許庁
PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR WAFER MEASURING METHOD例文帳に追加
プローブカード及び半導体ウエハ測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING FILLING MATERIAL IN STRUCTURE, MEASURING DEVICE, AND METHOD OF CONSTRUCTING UNDERWATER STRUCTURE例文帳に追加
構造物内中詰材の計測方法、計測装置および水中構造物施工方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF INFRARED SENSOR SIGNAL AND TEMPERATURE MEASURING METHOD, AND TEMPERATURE MEASURING DEVICE例文帳に追加
赤外線センサ信号の補正方法及び温度測定方法並びに温度測定装置 - 特許庁
SURFACE ACCURACY MEASURING METHOD, INTERFEROMETER, SURFACE ACCURACY MEASURING INSTRUMENT, AND PROJECTION OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
面精度測定方法、干渉計、面精度測定装置、投影光学系の製造方法 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING WAVELENGTH DISPERSION例文帳に追加
波長分散測定装置及びその方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加
波面収差測定装置及びその方法 - 特許庁
CALIBRATION DEVICE, TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD, BAND MEASURING DEVICE, AND BAND MEASURING METHOD例文帳に追加
キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、帯域測定装置、及び帯域測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TOTAL NITROGEN例文帳に追加
全窒素の測定方法及び測定装置 - 特許庁
WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
波面収差測定方法及びその装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING METAL CORROSIVENESS OF SOLUTION例文帳に追加
水溶液の金属腐食性測定方法 - 特許庁
DISTORTION MEASURING DEVICE AND WAVELENGTH CORRECTION METHOD例文帳に追加
歪計測装置及び波長補正方法 - 特許庁
NONCONTACT SUBSTRATE MEASURING INSTRUMENT, NONCONTACT SUBSTRATE MEASURING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR MAGNETIC DISK例文帳に追加
非接触基板測定装置、非接触基板測定方法及び磁気ディスクの製造方法 - 特許庁
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