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parametric yieldの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
To provide a method for manufacturing electronic device and a quality control system for electronic device by which the quality of an electronic device, such as the semiconductor, etc., can be controlled by studying the cause of yield degradation caused by a real parametric defect at the time of manufacturing the device.例文帳に追加
半導体などの電子デバイスの製造において、真のパラメトリック不良による歩留り劣化の原因を究明して電子デバイスの品質管理をできるようにした電子デバイスの製造方法および電子デバイスの品質管理システムを提供することにある。 - 特許庁
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