「program testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法および半導体試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験プログラムおよび半導体試験方法 - 特許庁

MODULE TESTING DEVICE, MODULE TESTING METHOD, AND MODULE TESTING PROGRAM例文帳に追加

モジュール試験装置、モジュール試験方法およびモジュール試験プログラム - 特許庁

ANALYSIS DEVICE, SENSOR TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加

分析装置、センサの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁

PROTOCOL TESTING DEVICE, PROTOCOL TESTING METHOD, AND PROTOCOL TESTING PROGRAM例文帳に追加

プロトコル試験装置、プロトコル試験方法およびプロトコル試験プログラム - 特許庁

TESTING EXECUTION DEVICE, TESTING EXECUTION METHOD, AND TESTING EXECUTION PROGRAM例文帳に追加

試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム - 特許庁

RADIOGRAPHIC TESTING APPARATUS, RADIOGRAPHIC TESTING METHOD AND RADIOGRAPHIC TESTING PROGRAM例文帳に追加

放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法及びプログラム - 特許庁

COMPRESSION TESTING METHOD, COMPRESSION TESTING MACHINE, AND PROGRAM例文帳に追加

圧縮試験方法及び圧縮試験機、並びにプログラム - 特許庁

WEB LOAD TESTING METHOD AND WEB LOAD TESTING PROGRAM例文帳に追加

ウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラム - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム、試験方法、及び試験プログラム - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING PROGRAM, AND INFORMATION PROCESSING UNIT例文帳に追加

試験方法、試験プログラム、及び情報処理装置 - 特許庁

MAGNETIC DISK DEVICE, AND TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM THEREOF例文帳に追加

磁気ディスク装置、その試験方法および試験プログラム - 特許庁

TEST-USE PROGRAM, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用プログラム、検査システム並びに検査方法 - 特許庁

TEMPERATURE TESTING DEVICE, TEMPERATURE TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

温度試験装置、温度試験方法及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法およびプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS, PROGRAM, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置、プログラムおよび試験方法 - 特許庁

BREAKER TESTING APPARATUS, PROGRAM AND BREAKER TESTING METHOD例文帳に追加

遮断器試験装置、プログラムおよび遮断器試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, METHOD OF TESTING, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置およびプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置及び試験プログラム - 特許庁

HARDNESS TESTING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

硬さ試験方法及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置およびプログラム - 特許庁

TEST PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加

試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

THERMAL FATIGUE TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

熱疲労試験装置、及びプログラム - 特許庁

PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プログラム及び検査装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、及びプログラム - 特許庁

DEVICE AND PROGRAM FOR TESTING VASCULAR FUNCTION例文帳に追加

血管機能検査装置とプログラム - 特許庁

PROGRAM UNIT TESTING METHOD例文帳に追加

プログラム単体試験方法 - 特許庁

PROGRAM TESTING OPERATION SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

プログラム試験作業支援システム - 特許庁

COMMUNICATION PROGRAM TESTING METHOD AND COMMUNICATION PROGRAM TESTING SYSTEM例文帳に追加

通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システム - 特許庁

TESTING SUPPORT DEVICE, FALSE ACTIVE CALL DEVICE, TESTING SUPPORT DEVICE CONTROL PROGRAM, AND TRANSMISSION PROCESSING APPARATUS TESTING METHOD例文帳に追加

試験支援装置、疑似呼装置、試験支援装置制御プログラム、及び、通信処理装置試験方法 - 特許庁

CLIP TESTER, CLIP TESTING METHOD, CLIP TESTING DEVICE, AND CLIP TESTING PROGRAM例文帳に追加

クリップテスタ、クリップ試験方法、クリップ試験装置、クリップ試験プログラム - 特許庁

ATTACK IMITATION TESTING METHOD, ATTACK IMITATION TESTING DEVICE AND ATTACK IMITATION TESTING PROGRAM例文帳に追加

攻撃模倣テスト方法、攻撃模倣テスト装置及び攻撃模倣テストプログラム - 特許庁

AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体デバイスの自動試験装置、及び自動試験装置用プログラム - 特許庁

INFORMATION PROCESSING UNIT, SOFTWARE TESTING METHOD AND SOFTWARE TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、ソフトウェア検査方法およびソフトウェア検査プログラム - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法および試験プログラム - 特許庁

CALL PROCESSING TESTING METHOD, CALL PROCESSING TESTING DEVICE, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

呼処理試験方法、呼処理試験装置及びそのプログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験装置及び方法、並びに集積回路試験用プログラム - 特許庁

MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING RANKING OF TELEVISION PROGRAM例文帳に追加

テレビ番組の格付けを試験するメモリー装置並びに試験方法 - 特許庁

SAMPLE TESTING SYSTEM, SAMPLE TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

NETWORK TESTING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびそのプログラム - 特許庁